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讲座报名 | 日立荧光新技术讲座开讲啦!

日立高新发布时间:2019/11/13 18:04 点击: 加载中..

 

日立经典款荧光分光光度计于201910月推出全新附件:荧光分布成像系统(EEM View)。它拥有行业首创的技术,同时分析荧光光谱和反射光谱,将样品的光谱信息可视化,同时获得更加细致的光谱信息。

 


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为让客户更好的了解这项新技术, “荧光分布成像系统巡回讲座将于1115日正式启动,我们将为大家带来:


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新技术讲座将经过山西、河北、北京、天津、南京、杭州、福州等十几个城市。

想让你所在的城市也加入吗?你可以做主!



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长按或扫描文末二维码,填写信息,即可报名哦~


除了专业有趣的知识,我们还准备了精美纪念品,立即锁定座位吧!


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