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荧光分布成像系统

产品详情

荧光分布成像系统

新品
荧光分布成像系统
参考报价:
 面议
型号:
 F-7100/F-7000的配件
品牌:
 日立
产地:
 日本
样本:  【下载】 信息完整度:  
典型用户:  0
灵敏度:
 大于20000(BG); 大于1200(RMS)
波长准确度:
 ±1nm以内
分辨率:
 100μm
狭缝(光谱通带):
 1nm~20nm
色散单元:
 光栅和滤光片
价格区间:
 10万-20万
产地类别:
 进口仪器
分享:
400-803-2799
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名 称: 日立高新技术公司
认 证: 工商信息已核实
信用积分:1942
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创新点
上市时间:2019年10月
创新点主要有两个方面:硬件方面:全球首创将将荧光分光度计与CMOS相机结合在一起,能够同时观察样品光谱和图像的技术。软件方面:运用了智能光谱算法,可以获取样品任意区域的光谱信息。常规的荧光分光光度计测得的是样品表面信息平均化的信号,得到的是一条荧光光谱,这个新的系统能够对样品表面进行分区,从而获得不同区域的光谱信号,使得光谱信息细致化了。
产品简介

1.  荧光分布成像系统EEM View简介

作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。

 <b>荧光分布成像系统</b>结构.png

新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射 光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品,利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光图像。

 

2.  荧光分布成像系统特点:

?  测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)

?  在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄图像
(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm

?  利用自主研发的分析系统1),分开显示荧光图像和反射图像

?  根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)

1)      国立信息学研究所 佐藤IMARI 教授?郑银强副教授共同研究成果

荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)

软件界面.png

样品安装简单,适用于各种样品测试

样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!

丰富的样品支架

样品支架.png

支持精确测量的校正工具

标准和空白样品.png

总结

以上为荧光分布成像系统的特点和功能结束,这是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。


售后服务
  • 免费上门安装:是
  • 保修期:1年
  • 是否可延长保修期:否
  • 保内维修承诺: 详细信息请拨打4006305821
  • 报修承诺:详细信息请拨打4006305821
  • 免费仪器保养:详细信息请拨打4006305821
  • 免费培训:详细信息请拨打4006305821
  • 现场技术咨询:有
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