SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。波长范围200-900nm。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量。
SpecEl由一个集成的光源,一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成,并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜,分辨率0.1nm,测量时间5-15秒,并且折射率测量可达0.005%。
波长范围: | 380-780 nm (标准) 或450-900 nm (可选) |
光学分辨率: | 4.0 nm FWHM |
测量精度: | 厚度0.1 nm ; 折射率 0.005% |
入射角: | 70° |
膜厚: | 单透明膜1-5000 nm |
光点尺寸: | 2 mm x 4 mm (标准) 或 200 µm x 400 µm (可选) |
采样时间: | 3-15s (最小) |
动态记录: | 3 seconds |
机械公差 (height): | +/- 1.5 mm, 角度 +/- 1.0° |
膜层数: | 至多32层 |
参考: | 不用 |
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企业名称
杭州谱镭光电技术有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
91330106552697280T
成立日期
2010-04-29
注册资本
壹佰万元整
经营范围
服务:光电产品、科学仪器的技术开发、技术服务、成果转让;批发、零售:光电科学仪器,光电元器件,仪器仪表,计算机配件,五金交电;货物进出口(国家法律、行政法规禁止的项(目除外,法律、行政法规限制的项目取得许可证后方可经营);其他无需报经审批的一切合法项目。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
杭州谱镭光电技术有限公司
公司地址
浙江省杭州市西湖区塘苗路18号华星现代产业园D座301室
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