嘉德利达应邀参加第十九届全国晶体生长与材料学术会议

三年一次的全国晶体生长与材料会议是由中国硅酸盐学会晶体生长与材料分会主办的系列会议，旨在促进人工晶体生长技术和晶体材料科学与工程研究最新成果的交流，推动理论研究和产业化技术的发展，开拓人工晶体材料在国民经济高技术领域的应用。第一届全国晶体生长与材料学术会议于1976年在苏州召开。进入本世纪以来，分别在上海、北京、福州、宁波、合肥、哈尔滨和西安举办了第十二至十八届全国晶体生长与材料学术会议。参会者均在600人以上，成为我国晶体生长领域学术交流和促进学术进步的重要会议。

天津理工大学功能晶体研究院院长胡章贵教授，中国工程院院士、天津理工大学吴以成教授，天津理工大学副校长叶宁教授，中国科学院院士、南京大学祝世宁教授等先后主持大会开幕式及邀请报告。中国科学院院士、燕山大学田永君教授，中国科学院院士、浙江大学杨德仁教授，西北工业大学介万奇教授，中国工程物理研究院郑万国研究员，西安交通大学徐卓教授，天津大学龚俊波教授等发表精彩大会报告。

详细内容如下：

本次交流会结束后，参会老师一起出席答谢晚宴并对优秀报告进行颁奖。会议结束后参会老师们也进行了合影留念。

嘉德利达作为特邀参展商也参与到会议中并设立相关展位为高校老师和学生们的研究提供硬件支持。

本次会议热门仪器介绍如下：

01

理学新一代微焦版转靶核心技术XRT形貌仪

XRT (X-ray Topography)是利用X射线的布拉格衍射原理和晶格畸变（缺陷）造成特征峰宽化和强度变化等特性，结合X射线形貌技术，可以对晶体内缺陷进行成像。XRT检测技术最大的优点就是实现晶体缺陷的无损检测，在不破坏晶圆的情况下实现2-12英寸半导体晶体中线缺陷、面缺陷和体缺陷的检测和表征。如下视频就是6英寸SiC衬底BPD缺陷测试。

XRT实物图

XRT测试过程[1]

02

SmartLab

粉末样品的物相定性与定量分析

计算结晶化度、晶粒大小

确定晶系、晶粒大小与畸变

Rietveld定量分析

薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度

In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

小角散射与纳米材料粒径分布

微区样品的分析

关于SmartLab   全自动水平式多目的Ｘ射线衍射仪 和理学新一代微焦版转靶核心技术XRT形貌仪的详细信息或应用需求请联系我们

联系人：王经理，18612502188

注：

[1] https://www.iisb.fraunhofer.de/en/research_areas/materials/joint-labs.html