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核心参数
产地类别： 进口
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用途：
X-RAY XDV-SDD是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层侧厚及材料分析仪。它特别适合用于测量和分析超薄镀层及进行痕量分析。其配备了高精度、可编程的X/Y轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。
应用领域：
1.分析超薄镀层，如：厚度≤0.1um的Au和Pa镀层；
2.印刷线路板上RoHs及WEEE要求的痕量分析；
3.黄金成分分析
4.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层；
5.分析复杂的多镀层系统；
6.全自动测量，如：用于质量控制领域。
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企业名称
广东正业科技股份有限公司
企业信息已认证
企业类型
其他股份有限公司(上市)
信用代码
91441900617994922G
成立日期
1997-11-14
注册资本
人民币叁亿陆仟玖佰壹拾柒万贰仟零陆拾贰元
经营范围
研发、生产、加工、销售:机器人、电子仪器设备及其软件、电子材料、日用口罩(非医用)、医疗器械(第二类医疗器械);全产线装备系统集成;设备租赁;货物的进出口业务;物业租械;为业管理。。(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
广东正业科技股份有限公司
公司地址
东莞市松山湖开发区南园路6号
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