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CMI233中文校准说明

发布时间:2010/07/23 10:35 下载:144 次 免费下载
英国牛津仪器Oxford CMI233分体式测厚仪(涂层测厚仪 镀层测厚仪)中文校准说明书。 CMI 233连线探头涂层测厚仪/膜厚仪 □性价比优势:同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头:配备有世界上最优秀的检测探头 □测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.1μm □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)
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展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH102014/