微区分析能量色散X射线荧光光谱仪

仪器简介：

　　在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 


　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。
　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。 

技术参数：

激发
- Mo 靶X光管
最大功率：30W,最大电压：48kV
- 测量点尺寸
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm


样品室
- 可显示样品的摄像系统(可调焦)
- 手动调节样品台，样品定位简便
- 马达驱动精确移动的XYZ样品台，
最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(宽x深x高)，
最大样品重量：3kg/6.6 lbs

计算机
- 外置式计算机系统，Windows
操作系统，
- 键盘，鼠标，显示器，打印机
- 菜单式软件，光谱仪参数调整和
数据评估及计算，元素成分及分布显示


检测器
- Peltier 冷却的Si 漂移检测器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα线，在测量计数率为
10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM< 160 eV
- 微处理器控制的检测器和读出电路
- 脉冲计数率可达250，000 cps

光谱仪数据
- 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz,
- 光谱仪能耗：200W
- 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm
580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1”
- 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 ”
- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置

分析
- 用于合金元素分析的基本参数程序FP +
- 塑料及复合材料的RoHS指令检测

环境条件
- 周围环境温度：5-30°C （41-85°F）
在20-25°C （68-77°F）下，可达到标定仪器性能
- 在 25°C (77°F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘

主要特点：

SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。