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安东帕微米压痕仪MHT³

产品详情

安东帕微米压痕仪MHT³

安东帕微米压痕仪MHT³
参考报价:
 面议
型号:
 MHT³
品牌:
 安东帕Tritec(原瑞士CSM)
产地:
 瑞士
样本:  【下载】 信息完整度:  
典型用户:  0
压头类型:
 
最大摩擦力:
 
位移分辨率:
 
可实现位移范围:
 
有效载荷分辨率:
 
最大压痕深度:
 
有效加载载荷范围:
 
仪器种类:
 
价格区间:
 
产地类别:
 进口纳米压痕仪、划痕仪
分享:
400-801-9298
仪器信息网认证,请放心拨打
产品简介

更大的仪器化压入(IIT)测试范围

根据仪器化压入测试 (IIT) 的要求,微米压痕仪非常适合于对硬度和弹性模量等机械性能的测量。它适用于块状样品和薄膜,从软材料到硬材料(金属、陶瓷、聚合物),可以进行大位移测量(最大 1 mm)。可以根据需求添加划痕测试模式。

主要特点

仪器化压入测试 (IIT) 用于测量硬度和弹性模量

  • 位移-仪器化压痕:持续测量与施加的载荷和相关的位移,获得材料硬度和弹性模量

一台仪器即可进行从纳米到宏观尺度的压痕

  • 从小位移(几纳米)到大位移(最大 1 mm)的压痕

  • 大载荷范围(从10 mN 到 30 N)以满足样品特性的要求

  • 大载荷范围 对测量粗糙表面尤为有用

高精度的位移和载荷可进行精确的微米压痕测量

  • 两个独立的传感器:一个用于载荷,一个用于位移,来进行准确的计量测量

  • 高框架刚度:2 x 108 N/m,更高的位移准确度

材料性能的位移曲线

  • 连续多周期 (CMC) 的位移曲线:硬度和弹性模量与压入位移的关系

  • 压入载荷和位移控制模式

  • 可视点阵模式通过显微镜观察对样品进行多点定位测试通过

  • 多个测试模式:可使用用户自定义程序根据需要设置测试参数

载荷
最大载荷30 N
分辨率6 μN
本底噪音<100 [rms] [μN]*
位移
最大位移

1000 μm

分辨率

0.03 nm

本底噪音

<1.5 [rms] [nm]*

载荷框架刚度

> 107 N/m

国际标准

ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507, ASTM E384

 


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展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH101011/