电子背散射衍射EBSD

   电子背散射衍射EBSD

  QUANTAX EBSD分析系统面向不通水平的用户，具有简洁易用和多功能的特点。是单机分析还是与EDS一体化集成，CrystAlign均能为各种不同晶体材料的研究提供更大的通用性和灵活性。其中，高性能e-Flash系列EBSD探头是该系统为重要的组成部分。

Bruker非常注重e–Flash系列探测器的设计，结合自身在电子显微镜设备领域数十年的开发经验和对用户需求的深入了解，e–Flash系列探测器具有非常*的可用性和*特性，并支持从高速到高分辨、高灵敏度的EBSD应用。

e–Flash1000— 专注于高速EBSD分析

e–Flash1000是迄今市场上速度*快的EBSD探测器。8x8面元模式下，该探测器提供*的850patterns/s的采集速度；4x4面元模式下，采集速度可达630patterns/s。与其他EBSD系统相比较，该速度是当前行业内*快的速度（8x8面元）。

该EBSD探测器深刻表明：速度、准确度和*度可兼得，即使在*高采集速度下也能保证准确的相辨别。取向识别的*度也是e–Flash1000的标准特征。右侧的取向差图描绘图可很好的印证。

在原生分辨率（640x480像素）条件下，e–Flash1000采集速度可达210patterns/s。

e–FlashHR —专注于高分辨分析

高分辨EBSD探测器是高速EBSD探测器的市场补充。Bruker的e–FlashHR高分辨EBSD探测器具有1600x1200像素的原生分辨率，其提供具有惊人细节的花样图像。

e–FlashHR高分辨EBSD探测器具有花样分辨率和超高信号灵敏度，能胜任材料分析中复杂而艰难的分析任务，例如：

低束流工作

低kV工作

导电性差的样品

纳米材料

伪对称性的分析

晶格应变研究

保证原生分辨率1600x1200像素条件下，探测器的分析速度35patterns/s。*大面元（20x20）条件下，e–FlashHR的分析速度可达170patterns/s。这使它成为当前行业内*快的高分辨率EBSD探测器。

 

竖直屏幕方位的原位调节

该功能是e–Flash探测器的特征。在电镜真空环境下，当探测器处于工作位置时，竖直屏幕方位具有灵活的角度调节能力。在采集设置过程中，它对信号的优化和调整工作距离非常有帮助，能给予用户前所未有的灵活性和舒适度。

的*特性

e–Flash探测器具有密封的机壳，的移动部件内置，切实避免由移动部件引起的不必要的损害。探测器安装需三根导线，两根以太网（RJ45）双绞线分别用于信号传输和探测器控制，第三条导线用于供电。导线固定安装，避免导线之间的缠绕和外部损伤。

EBSD外壳顶部标配蓝色LED指示器，探测器是否关闭，实时显示磷屏位置。该设计可避免磷屏与SEM样品腔中的部件发生碰撞而导致磷屏损坏的风险。一旦发生碰撞，快速回缩机制会立刻触发，将EBSD探测器以10mm/s的速度移出样品腔。磷屏更换非常简便，如屏幕被划伤或损坏，用户也可以轻松的自行更换。

灵活性—适合任何分析环境和任务

e–Flash探测器具有非常大的伸入长度，对于当前*大样品腔的电镜，也适合安装。快速的探测器移动速度和定位的*性，对于3D EBSD等的高重复性任务非常实用。