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解决方案

英国马尔文仪器:通过Sysmex FPIA-3000分析碳化硅的方法

应用领域: 发布时间:
2017-10-26
检测样品:
碳化硅
检测项目:
粒度
参考标准:
·
浏览次数:
64
下载次数:
5 次
方案优势
Sysmex FPIA-3000 流动颗粒图像分析仪是分析诸如碳化硅(SiC)之类研磨材料粒度和形状的理想工具。为了取得良好的测试结果,样品的分散是非常重要的。另外,由于这类样品的密度较大,确保有代表性地进样也是十分重要的。该应用文章描述了使用FPIA-3000测试SiC时的样品制备和分析方法。
实验设备
参考报价:
面议
型号:
FPIA-3000
品牌:
--
产地:
日本
关注度:
419
完整度:
大小:217kb
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