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赛默飞(原FEI)ELITE 系统

产品详情

赛默飞(原FEI)ELITE 系统

赛默飞(原FEI)ELITE 系统
参考报价:
 面议
型号:
 ELITE
品牌:
 赛默飞
产地:
 
样本:  【暂无】 信息完整度:  
典型用户:  0
分享:
400-860-5168转0537
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名 称: 赛默飞世尔科技电子显微镜
认 证: 工商信息已核实
信用积分:3900
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产品简介

随着“超越摩尔定律”技术的普及,封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂;芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小,而基板则采用更高的图案密度和嵌入式组件。缺陷在不断增加,缺陷检测则变得更加困难。


通过使用具有最高灵敏度的高分辨率锁相热成像 (LIT),Thermo Scientific™ ELITE™ 系统为各种缺陷类型的通孔封装缺陷、片上缺陷甚至板载电气缺陷的定位提供了一套重要解决方案,这些缺陷包括电源或线路短路、ESD 缺陷、电流泄漏、氧化伤害、缺陷晶体管和二极管、器件闩锁以及电阻性开路。


ELITE 是第一款可为二维和三维器件提供动态无损实时 LIT 的完全集成系统。作为市场领导者,ELITE 系统的设计采用专有的高灵敏度 InSb 摄像头、定制光学器件和高级算法,具有出众的性能,并可以在最短时间内获得结果,通过为失效分析工程师提供根本原因分析所需的关键信息,有效缩短分析学习的周期。


另外,由于具有所有无损技术中最高的热灵敏度,ELITE 系统能够检测最具挑战性的缺陷,无需开封检查或从封装中取出芯片,甚至无需对 IC 器件进行剥层,因而消除了使用有损方法时意外遗漏故障的风险。


此外,ELITE 系统可与其他无损技术(例如扫描声学显微镜 (SAM) 或二维和三维 X 射线技术)相结合,通过传递故障位置的精确 x、 y 和 z 坐标,加快获得结果的速度并提高成功率,从而在需要深度信息或存在微小特征时显著缩小 X 射线和 SAM 的搜索半径并缩短检查时间。ELITE 系统还提供配备固体浸没透镜 (SIL) 和 S-LSM 选项的高分辨率光学器件,可实现最高水平的分辨率和图像质量。




主要优势:

完全无损,无需开封检查,无需逆向处理,没有遗漏或损害缺陷证据的风险

快速识别 精确定位集成电路板上的缺陷元件

定位缺陷在x-y方向有微米精度,深度定位精度 20 μm


赛默飞(原FEI)ELITE 系统信息由赛默飞世尔科技电子显微镜为您提供,如您想了解更多关于赛默飞(原FEI)ELITE 系统报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:对于医疗器械类产品,请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况

售后服务
  • 免费上门安装:否
  • 保修期:1年
  • 是否可延长保修期:否
  • 保内维修承诺:0
  • 报修承诺:0
  • 免费仪器保养:0
  • 免费培训:0
  • 现场技术咨询:无
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分机号:0537
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展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH100537/