搜全网
搜本展位

Helios DualBeam™扫描电子显微镜

产品详情

Helios DualBeam™扫描电子显微镜

新品
Helios DualBeam™扫描电子显微镜
参考报价:
 面议
型号:
 Helios DualBeam™
品牌:
 赛默飞
产地:
 捷克
样本:  【暂无】 信息完整度:  
典型用户:  0
(离子光学系统)视野范围:
 
(离子光学系统)探针电流:
 
(离子光学系统)分辨率:
 
(离子光学系统)发射源:
 
(电子光学系统)视野范围:
 
(电子光学系统)探针电流:
 
(电子光学系统)分辨率:
 
(电子光学系统)发射源:
 
仪器分类:
 FIB
价格区间:
 1000万-1500万
产地:
 进口
分享:
400-860-5168转0537
仪器信息网认证,请放心拨打
仪信通白金会员 第 16 年
仪信通诚信认证
仪器信息网认证,请放心拨打
400-860-5168转0537
名 称: 赛默飞世尔科技电子显微镜
认 证: 工商信息已核实
信用积分:3900
微信公众号
关注我们
赛默飞电镜(原FEI)手机版
创新点
上市时间:2019年7月
来自赛默飞世尔科技的新 Helios Hydra 双束电镜为研究人员和工程师提供了表征宽范围材料的可能性 "为科学家在一台仪器中轻松选择四种不同离子源的整合能力,将扩大和优化跨长度尺度研究材料性能的应用空间,"赛默飞世尔科技-材料和结构分析总裁Mike Shafer说,"我们新的 Helios Hydra DualBeam 系统提供了所需的灵活性,可以更好地分析样品、改进结果并开发新的和增强的材料。
产品简介

Helios NanoLab DualBeam

 一直以来,Helios NanoLab 都综合采用了 FEI 的最佳电子和离子光学系统、配件和软件,能够为尖端纳米量级研究提供强大的解决方案。对于从事纳米技术前沿研究的科学家,Helios NanoLab 能让他们拓展研究边界,为材料研究开辟新的天地。 

 

借助极具价值的亚纳米 SEM 成像技术、S/TEM 超薄样本制备能力以及最精确的原型设计功能,科学家能够将 Helios NanoLab 当作理想的研究伴侣,为未来的科技进步开发创新的新材料和纳米量级器件。

Helios NanoLab 的材料科学应用

在材料科学领域,研究人员面临的挑战是持续改善目前制造的材料和设备的质量。为了实现技术进步,在纳米量级了解结构和成分细节至关重要。Helios NanoLab 设计用来以低至亚纳米量级的分辨率提供多尺度、多维度洞察,让研究人员能够观测样本最微小的细节。Helios NanoLab 还可为原子分辨率 S/TEM 成像迅速制备最高质量的样本。此外,如果研究工作包括开发 MEMS 或 NEMS 器件,也可配备 Helios NanoLab 打造全功能原型。

    Helios NanoLab 的电子工业应用

    Helios NanoLab 是一款极其灵活的平台,既能以极高的效率制备 TEM 样本,又能开展高性能低电压成像以分析高级逻辑和存储器件。Helios Nanolab 具有大型和小型样本室两个配置,效率极高,并且是面向实验室和近生产环境的低每样本成本半导体分析工作流的关键组成部分。

      Helios NanoLab 的自然资源应用

      地质学家和矿藏工程师可以使用 Helios NanoLab 技术对钻屑和微芯开展二维和三维岩石表征。它利用的 DualBeam 技术独具特色,博采 FIB(聚焦离子束)铣削和 SEM(扫描电子显微镜)分析之长。借助自动化序列样本铣削和成像功能,客户可以创建二维序列图像,进而开展三维容积重建。根据这些数据,客户可以在微米至纳米量级别观测和量化孔隙网络等纹理。

      Helios NanoLab 的生命科学应用

      要想在三维背景下了解生物事件,就必须采用专用的成像解决方案,而且这些成像解决方案应能以极高的分辨率呈现极小的细节,从而揭示出复杂网络的超微结构和空间结构。Helios NanoLab 具有卓越的 SEM 性能和可靠、精确的 FIB 切片能力,还配备了高精度压电工作台,堪称小型 DualBeam 平台的极致之选。出色的成像能力,辅以透镜内和柱内检测器提供的尖端高对比度检测技术,能够实现真正卓越的对比度。

       

      Helios DualBeam™扫描电子显微镜信息由赛默飞世尔科技电子显微镜为您提供,如您想了解更多关于Helios DualBeam™扫描电子显微镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

      注:对于医疗器械类产品,请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况

      售后服务
      • 免费上门安装:否
      • 保修期:1年
      • 是否可延长保修期:否
      • 保内维修承诺:0
      • 报修承诺:0
      • 免费仪器保养:0
      • 免费培训:0
      • 现场技术咨询:无
      • 推荐产品
      • 供应产品
      • 产品分类
      400-860-5168
      分机号:0537
      仪器信息网认证,
      请放心拨打
      扫码拨打
      访问手机展位
      赛默飞电镜(原FEI)官方展位由仪器信息网设计制作,工商信息已核实。
      展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH100537/