搜全网
搜本展位
当前位置:仪器信息网 > 日本电子 > 解决方案 > 镀膜厚度测量
解决方案

镀膜厚度测量

应用领域: 发布时间:
2016-01-08
检测样品: 检测项目:
厚度
参考标准:
暂无
浏览次数:
253
下载次数:
12 次
方案优势
无损检测,样品可以不被破坏;最多可测量五层,采用JEOL最新FP法软件,无需标样皆可进行测量,是检测和操作都变得非常方便。
实验设备
参考报价:
600000
型号:
JSX-1000S
品牌:
日本电子
产地:
日本
关注度:
1091
完整度:
大小:410kb
其它方案
  • 7800F特设设计的物镜极靴在保证超高分辨率的同时,物镜磁场物外漏,对观察和分析磁性样品有很大的优势。
    发布时间:2016-01-12  浏览量:419 次 下载次数:24
  • ABF技术是JEOL应用在球差校正电镜上的最新技术,与传统的STEMHAADF技术观察重原子相比,STEMABF技术可以清晰看到轻原子位置,本文是一片应用ABF技术看一号元素H的好
    发布时间:2013-04-28  浏览量:826 次 下载次数:38
  • 最新式的JEM-ARM200F上作的非常漂亮的原子级STEM和EELSMapping。彰显该仪器的高分辨、高稳定性。
    发布时间:2011-01-28  浏览量:1513 次 下载次数:101
  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
400-860-5168
分机号:0507
仪器信息网认证,
请放心拨打
扫码拨打
访问手机展位
日本电子官方展位由仪器信息网设计制作,工商信息已核实。
展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH100507/