搜全网
搜本展位
当前位置:仪器信息网 > 安捷伦 > 资料中心 > 文档下载 > USP <232>/<233> 和 ICH Q3D 元素杂质分析: 安捷伦 ICP-OES 解决方案
文档下载

USP <232>/<233> 和 ICH Q3D 元素杂质分析: 安捷伦 ICP-OES 解决方案

发布时间:2020/01/13 17:26 下载:5 次 免费下载 1
USP 通则章节 <233>(元素杂质 — 流程)建议使用 ICP-OES 或 ICP-MS 测定药品及成分中元素杂质的含 量。安捷伦 ICP-OES 仪器可耐受所有常见的酸和有机溶 剂基质以及其他复杂基质,如固体样品溶解后制得 的基质。这些样品无需高倍数稀释即可直接进行测 定。安捷伦 ICP-OES 系统还具有稳定的垂直等离子体,可确保对所有分析物均获得优异的稳定性与高灵敏度。
相关资料
安捷伦的ICP-OES仪器与ESIprepFAST™自动稀释系统相结合,可自动执行大量繁琐的样液处理过程。还能自动配制校准曲线、稀释样品和补偿内标抑制。
发布时间:2020-01-13  浏览量:114 次 下载次数:6
安捷伦提供两种不同的ICP-OES背景校正算法:拟合背景校正(FBC),用于准确、快速地校正简单和复杂的背景;快速自动曲线拟合技术(FACT),用于校正高度复杂的背景。
发布时间:2020-01-13  浏览量:104 次 下载次数:15
针对LC/MS用户,安捷伦推出专业的预防性服务。我们经验丰富的工程师在维护您的仪器的过程中会检查仪器运行状态,给您提供专业的建议,例如如何防止突发事故。 主要包
发布时间:2019-12-23  浏览量:69 次 下载次数:10
  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
访问手机展位
安捷伦官方展位由仪器信息网设计制作,工商信息已核实。
展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH100320/