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测量半导体制造中的无机杂质

发布时间:2019/05/28 17:21 下载:3 次 免费下载
自 20 世纪 80 年代后期以来,安捷伦与领先的半导体制造商和化学品供应商密切合作,开发出有助于应对这一快速发展的行业所面临挑战的 ICP-MS 系统和应用。从离轴离子透镜和冷等离子体到具有 MS/MS 操作模式的独特的高灵敏度 8900 ICP-MS/MS,安捷伦一直处于对该行业至关重要的关键 ICP-MS 创新的最前沿。
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安捷伦于2012年推出了世界上第一款串联四极杆ICP-MS(ICP-MS/MS)。Agilent8800ICP-MS/MS代表ICP-MS技术的一次重大进步,并重新定义了痕量元素分析的性能。与现有的四
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