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纳米检测显微镜 LEXT OLS4500

产品详情

纳米检测显微镜 LEXT OLS4500

纳米检测显微镜 LEXT OLS4500
参考报价:
 面议
型号:
 LEXT OLS4500
品牌:
 岛津
产地:
 日本
样本:  【暂无】 信息完整度:  
典型用户:  0
仪器种类:
 
价格区间:
 
产地类别:
 进口仪器
分享:
仪信通钻石会员 第 19 年
仪信通诚信认证
名 称: 岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司
认 证: 工商信息已核实
信用积分:4720
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产品简介

LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜(LSM)以及扫描探针显微镜(SPM)功能为一体的革新机,从而可以实现对观测对象从几十倍到百万倍的连续放大, 可以满足不同样品的超高分辨率三维观察,以及尺寸测量、微粗糙度测量等各种观测需求。

通过在多种显微镜和观察模式间自由切换,LEXT OLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的超大范围观察和测量,这使得观察对象的定位变得精准快捷,在大大缩短了获取影像时间的同时保护了探针,并且不用担心观测目标的丢失。另外,这种一体的革新设计可以实现对同一对象的多手段原位观测,从而提高了对观测结果分析解释的准确性和可信度!

l        光学显微镜:

装有倍率不同的四种物镜,集合了明视野观察(BF)、微分干涉观察(DIC)、简易偏振光观察及HDR(高动态范围)观察等多种功能。

l        激光显微镜:

采用短波长405nm的激光光源和高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统,实现了优异的平面分辨率。在激光微分干涉模式中还可以实现观察纳米级的微小凹凸。

l        扫描探针显微镜:

专业的针尖对齐夹具避免了在仪器上调节激光光斑位置的繁琐;

搭载导航功能,可以在已扫图像中任意制定特定区域进一步扫描观测;

多种观察模式满足对样品表面形貌和物性的观察分析。

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展位地址:https://www.instrument.com.cn/netshow/SH100277/