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  • 光学仪器及设备

原子分辨分析型透射电镜

  • 型号 JEM-ARM200F
  • 产地 日本
  • 样本 暂无
  • 品牌日本电子

核心参数

  • 仪器种类 场发射

日本电子株式会社(JEOL)

  • 营业执照已审核
  • 品牌性质生产商
  • 金牌会员第16年
  • 信用积分3752
  • 反馈速度21-24小时
  • 同类仪器9台
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原子分辨分析型透射电镜 产品介绍 典型用户 用户评论

产品介绍



技术参数:

1.分辨率:STEM 0.08 nm 
                   TEM0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector)
2.放大倍数:STEM 100 to 150,000,000x
          TEM50 to 2,000,000x
3.加速电压: 200 kV
4.球差校正器STEM Cs corrector Standard
                         TEM Cs corrector Optional
5.其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc.



主要特点:

原子分辨率 S/TEM 
标配照明系统的球差校正器,STEM分辨率 0.08 nm, 为世界最高的商业化透射电镜,同时使其具有无与伦比的分析功能。

极强的抗干扰能力和超高稳定性
JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。

可以选配成像系统的球差校正器
点分辨率可以提高到 0.11 nm.

操作极为简单
克服了球差校正透射电镜难于操作的难题。

典型用户

用户单位 采购时间 采购数量
  • 东北大学 2013-12-19 1
  • 上海交通大学 2011-12-01 1
  • 神华集团低碳清洁能源研究所 2011-06-02 1
  • 中科院大连化物所 2010-12-20 1
  • 中国科技大学 2010-09-29 1
  • 西安交通大学 2009-12-18 1

日本电子株式会社(JEOL)

仪信通金牌会员16年

常用搭配

  • X射线能谱仪 |
  • 顺磁共振波谱 |
  • 冷冻干燥机 |
  • 真空泵

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产品质量: 售后服务: 易用性: 性价比:

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