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Ekspla SFG 表面和频光谱分析系统

北京欧兰科技发展有限公司 查看联系方式

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Ekspla SFG 表面和频光谱分析系统 产品介绍 售后服务承诺 解决方案 用户评论

产品介绍

仪器简介:

SFG系统是进行表面和接触面研究的强有力而通用的工具

应用 
聚合物分子结构, 聚合物混合表面与深层接触面 
电化电池的固体/液体表面分子组织研究 
晶体表面催化反应的分子研究 
液体表面的分子定向研究,特别是水表面 
金属单层的自聚合现象研究 
... 还有您的个性化课题。

SFG 和频光谱测量系统 
和频光谱测量系统 (SFG)是一个二阶非线性光学测量过程,用于在接触面产生分子振动光谱。 
SFG,一种三束光波混频过程。通过将红外光,可见光在样品上(在时间和空间)上重合产生合频信号(wSF = wIR + wVIS) 
由于其表面特异性,SFG信号只能来源于表面分子或原子. 其特点是表面分子的灵敏性和特异性 
几乎在任何可以接触光的表面都可以应用SFG这一无破坏性的光学技术。测量可以在各种环境,包括真空和大压力条件下进行。  

技术参数:

总体性能
工作波长:2.3–10μm(4300–1000cm-1)*
光谱分辨率:< 6 cm-1
检波灵敏度:~10 photons/shot
数据采集频率:10 Hz
*) 可选择使用 16 &mu;m (625 cm-1)

可见光束(VIS beam):
波长:532 nm
线宽:< 2 cm-1
脉冲能量:~ 1 mJ @532 nm
脉冲持续时间:20 &ndash; 30 ps
偏振
线性; 可选择;
偏振度>1:100

红外光束(IR beam)
调谐范围:2.3&ndash;10 &mu;m(4300&ndash;1000 cm-1)*
线宽:< 6 cm-1
偏振:线性; 可选; 1:100 纯度
脉冲能量:200-20&mu;J

SFG光束:
波长范围:432 &ndash; 505 nm (VIS 光束=532 nm)


主要特点:

性能特点:
优良的激光源稳定性,S/N率高
测量范围大: 625 cm-1
光谱分辨率高于 6 cm-1
性价比高
完全 PC 控制波长扫描
可升级到SHG倍频光谱测量系统
在线分析研究
单层分子研究
端基定向
表面反应与催化
表面原子团完全定向
表面震动的激发与缓和

注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

售后服务承诺

免费上门安装:是

保修期:1年

是否可延长保修期:是

保内维修承诺:全天候电话邮件微信远程连接支援服务

报修承诺:一周内到达用户现场开始维修

免费仪器保养:质保期内一次

免费培训:一人次

现场技术咨询:有

解决方案

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北京欧兰科技发展有限公司

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