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Rtec-台阶仪

  • 型号 UP-Dual
  • 产地 美国
  • 样本 暂无
  • 品牌Rtec

核心参数

  • 产地类别 进口仪器

艾泰克仪器科技(南京)有限公司 查看联系方式

  • 营业执照已审核
  • 品牌性质经销商
  • 金牌会员第13年
  • 信用积分3316
  • 反馈速度21-24小时
  • 同类仪器1台
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产品介绍

特点

集合了共焦光学形貌仪,WLI白光干涉形貌仪,原子力显微镜,接触和非接触式双模式表面形貌检测。

技术参数


项 目 简 述参数说明
1. 双模式三维表面形貌仪——共焦

l可快速垂直扫描的旋转共焦技术

l使用高数值孔径 (0.95) 以及高倍数的 (150X) 3D全视野3D镜头,用以表征坡度分析 (斜率<干涉测量>: 72° vs 44°) 

l具有光学形貌上超高的横向分辨率,附有5百万自动分辨率的CCD相机,空间下样可调至0.05um,是表面特征以及形貌的测量的理想配置

l在测量表面粗糙度/表面反射率上没有限制

l应用于透明层/薄膜

l兼容亮视野&暗视野; 光学DIC

l长距离远摄镜头是用以测量高纵横比以及坡度特性的理想之选

l独有的稳定性

2.双模式三维表面形貌仪——干涉仪(WLI)

lZ向高分辨率

l兼具相移(PSI)以及垂直扫描(VSI)模式

lZ向分辨率可独立放大 

l四色CCD 相机,用户可自选的LED光源 (白光,绿光,蓝光和红光)

l高达五百万像素的可自动分辨的CCD 相机

l快速处理器

l自动对焦

3.双模式三维表面形貌仪——原子力显微镜

l探针扫描可用于大型模板

lX, Y, Z三向可达原子级分辨率

l大压电探针扫描XY: 达到 110x110um

4.双模式三维表面形貌仪——变焦

l粗糙表面分析

l快速分析

l特点:一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪 高精度原子力显微镜





注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

售后服务承诺

免费上门安装:是

保修期:1年

是否可延长保修期:是

保内维修承诺:免费维修

报修承诺:如有必要24小时到达现场

免费仪器保养:指导

免费培训:现场免费

现场技术咨询:有

艾泰克仪器科技(南京)有限公司

仪信通金牌会员13年

常用搭配

  • 探伤仪 |
  • X射线探伤仪

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