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禾苗镀层测厚仪器

核心参数

  • 产地类别 国产X射线荧光测厚仪

深圳市禾苗分析仪器有限公司 查看联系方式

  • 营业执照已审核
  • 品牌性质生产商
  • 银牌会员第5年
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禾苗镀层测厚仪器 产品介绍 用户评论

产品介绍

E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。

仪器规格:

● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

● 仪器重量:50kg

● 供电电源:AC220V/ 50Hz

● 最大功率:330W

● 工作温度:15-30℃

● 相对湿度:≤85%,不结露

产品特点:

1.1全自动三维样品台

 

1.2 X射线向下照射式,激光对焦

1.3小光斑设计1.4测试时间灵活性调节

1.4测试时间灵活性调节

1.5多规格样品仓

1.6 X-Ray探测器

 

 

注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

深圳市禾苗分析仪器有限公司

仪信通银牌会员5年

常用搭配

  • 椭偏仪 |
  • X荧光测厚仪

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