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三维白光干涉仪

  • 型号 UP-WLI
  • 产地 美国
  • 样本 暂无
  • 品牌Rtec

核心参数

  • 产地类别 进口白光干涉测厚仪

艾泰克仪器科技(南京)有限公司 查看联系方式

  • 营业执照已审核
  • 品牌性质经销商
  • 金牌会员第13年
  • 信用积分3316
  • 反馈速度21-24小时
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三维白光干涉仪 产品介绍 用户评论

产品介绍

                   白光干涉测量系统沿着垂直轴向捕获光强数据,通过白光干涉图的形状,局部相位或者两者结合确定表面位置

Vertical Resolution
垂直分辨率
0.1nm
0.1nm
Turret
转轮
upto 6 objective turret (manual or automatic)
6镜头转轮(自动或手动)
Scan Range
扫描范围
Up to 150mm x 150mm
最高达150mmx150mm
Sample thickness
试样厚度
upto 100mm
最高达100mm
FOV
视场
upto 10mm
最高达10mm
Objectives
物镜
10x,50x
10倍,50倍
Z focussing range
Z轴方向聚焦范围
  1. nm to 10mm

  2. 0.1nm到10mm

Scanning area
扫描区域
150x150mm
 150x150mm
Tilt
倾斜角
+/- 7 degree
+/-7度
Rotation (theta)
平台旋转范围
360 Degree
360度
Pixel
像素
Standard 1024 x 1024
标准1024x1024

注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

艾泰克仪器科技(南京)有限公司

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