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牛津仪器X-MaxN大面积硅漂移探测器

核心参数

  • 探测器面积150mm2
  • 最大计数率2000000
  • 峰背比200000:1
  • 分辨率150eV
  • 探测器类 硅漂移探测器(SDD)
  • 仪器种类 进口产品

牛津仪器科技(上海)有限公司 查看联系方式

  • 营业执照已审核
  • 品牌性质生产商
  • 白金会员第19年
  • 信用积分4117
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  • 同类仪器4台
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牛津仪器X-MaxN大面积硅漂移探测器 产品介绍 解决方案 用户评论

产品介绍

X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2探测器,分析速度至少是普通探测器的两倍。


总览

  • 探测器晶体尺寸可选,分别为150 mm2,80 mm2,50 mm2,20 mm2

  • 无论晶体面积或大或小,X-MaxN 的分辨率始终如一的好——并符合标准ISO15632:2012

  • 无论晶体尺寸如何,能谱仪外管尺寸及在电镜中的位置完全一致,确保相同条件下,计数率的增加只源于晶体尺寸的增加

  • 强大的低能端分析,所有晶体面积的能谱仪均保证由Be开始

  • 与上一代X-Max同,无论SEM或FIB均使用同一界面


无论晶体面积如何,优异的性能始终如一

  • 因其独特地外置型FET场效应管设计,X-MaxN 的分辨率完全不受晶体面积变化的影响始终如一,且保证全部具有优异的低能端检测性能

  • 探测器外管尺寸相同,意味着相同条件下,计数率仅与晶体面积有关

  • 保证所有晶体面积的能谱仪均具有优异的能量分辨率

  • 出众的低能端分析性能,保证所有尺寸的能谱仪皆可探测到Be元素


使用大面积能谱仪

  • 低束流下有足够的计数率

  • 尽可能高的实现图像的可视性及准确性

  • 无需为能谱分析改变SEM的条件

  • 在相同束流下,极大地提高计数率

  • 缩短采集时间

  • 统计性更高

  • 实现小束斑下的能谱分析

  • 提高能谱检测的空间分辨率

  • 尽可能体现高分辨电镜的优势

  • 晶体面积越大,X-射线计数效率越高

  • 相同条件下,晶体面积越大:以前需要几分钟完成的工作,现在仅需要几秒钟——面/线分布更易获得

  • 采集时间相同,可极大地提高分析精度及统计性

  • 大面积能谱仪——快速获得所有显微分析结果


优异的低能端分析性能

  • X-MaxN 为低能端元素的分析做了巨大的优化——无论何种尺寸,均前所未有的表现出优异的低能端分析性能

  • 所有尺寸的能谱仪均可保证检测到Be,可获得SiLI峰的面分布

  • 超大面积的能谱仪——均具有优异的低能端分析性能

  • 优异的空间分辨率
    高空间分辨率,X射线扩展区域更小

  • 大面积能谱仪可以在低加速电压及低束流下采集X-射线

  • 纳米尺度的特征可以更好的被检测到

  • 超大面积的能谱仪——使高级的纳米分析成为可能

注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

解决方案

  • 钢铁 |
  • 地矿 |
  • 汽车

牛津仪器科技(上海)有限公司

仪信通白金会员19年

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  • 扫描电镜 |
  • 二次离子质谱 |
  • X光电子能谱 |
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