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冷场发射球差校正透射电镜

  • 型号 JEM-ARM200F(C)-NEO ARM
  • 产地 日本
  • 样本 暂无
  • 品牌日本电子

核心参数

  • 放大倍率50X-2,000,000
  • 加速电压30,80,200kV
  • 分辨率STEM图像:0.071nm(有球差校正)
  • 仪器种类 场发射

日本电子株式会社(JEOL) 查看联系方式

  • 营业执照已审核
  • 品牌性质生产商
  • 金牌会员第17年
  • 信用积分3952
  • 反馈速度21-24小时
  • 同类仪器9台
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冷场发射球差校正透射电镜 产品介绍 典型用户 用户评论

产品介绍

日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。

传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。

在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室;欧洲各国;日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等;中国台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。


从2009年开始,中国先后购买了JEM-ARM200F进二十台,针对不同研究领域选用了不同配置。2017年6月日本电子株式会社推出了最新款的NEO ARM,采用自动球差校正软件、且低压下的分辨能力超强,适用范围进一步扩大,为材料科学研究提供了一个更全面分分析平台。

注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

典型用户

用户单位 采购时间 采购数量
  • 三星(西安) 2013-11-01 1
  • 北京化工大学 2014-06-09 1
  • 中国石化石油化工科学研究院 2013-03-20 1
  • 上海交通大学 2011-12-01 1
  • 中国科学院物理研究所 2011-07-31 1

日本电子株式会社(JEOL)

仪信通金牌会员17年

常用搭配

  • X射线能谱仪 |
  • 顺磁共振波谱 |
  • 冷冻干燥机 |
  • 切片机

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