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  • 光学仪器及设备

200kV场发射透射电子显微镜

  • 型号 JEM-2100F
  • 产地 日本
  • 样本 暂无
  • 品牌日本电子

核心参数

  • 仪器种类 场发射

日本电子株式会社(JEOL)

  • 营业执照已审核
  • 品牌性质生产商
  • 金牌会员第16年
  • 信用积分3752
  • 反馈速度21-24小时
  • 同类仪器9台
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200kV场发射透射电子显微镜 产品介绍 典型用户 用户评论

产品介绍

仪器简介:
JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。

利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。
高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。

JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。

SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。



技术参数:
1.点分辨率:0.19nm
2.线分辨率:0.14nm
3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角:25
5.STEM分辨率:0.20nm


主要特点:
1.高亮度场发射电子枪。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移。
4.稳定性好、操作简便。
5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机。

典型用户

用户单位 采购时间 采购数量
  • 中国科学院理化研究所 2008-10-15 1
  • 中国科学院大连化物所 2013-05-06 1
  • 中科院宁波材料技术与工程研究所 2012-09-01 1
  • 中国科学院物理研究所 2012-04-02 1
  • 中国科学院生态所 2011-11-01 1
  • 中国科学院山西煤化所 2011-08-01 1
  • 中国科学院化学研究所 2011-12-25 2
  • 吉林大学 2011-06-02 3
  • 上海交通大学 2009-05-06 1
  • 西安交通大学 2010-09-30 3
  • 中国科学院金属研究所 2010-04-01 1
  • 北京大学化学学院 2008-01-15 1

日本电子株式会社(JEOL)

仪信通金牌会员16年

常用搭配

  • 顺磁共振波谱 |
  • 离子减薄仪 |
  • 切片机 |
  • 真空泵

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