高分辨率扫描探针显微镜配件

高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜，SPM显微镜， 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成，同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。

高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台，包括各种扫描位移台，以确保用户大面积扫描样品，扫描探针显微镜具有最佳的多功能性，可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。
高分辨率扫描探针显微镜配件特色

双光学样品观察（正置和倒置）
扫描尺度高达 250 μm
全自动样品拾取

X-Y 扫描尺寸
100 x 100μm (高压模式);
10 x 10 μm (低压模式)
高电压模式闭环分辨率: 2 nm
高电压模式开环分辨率: 0.2 nm
闭环线性： 0.1%.

Z 方向扫描尺寸:
10 μm (高压模式)
1 μm (l低压模式)
分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)

高分辨率扫描探针显微镜配件特色

适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。

扫描探针显微镜控制系统： 数字控制器和模拟反馈系统，具有高分辨率和低噪音的特点。
扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软
多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件，控制所有的硬件工作。