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飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2
型号:Phenom Pharos G2
荷兰飞纳推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源,使用户可以轻松获得高分辨率图像,且低电压性能优异。
全自动 ParticleX 锂电正负极杂质分析系统
型号:ParticleX 锂电
锂电池中的铜、锌、铁等金属异物可能导致严重的安全事故,对金属异物的管控也已成为行业共识。飞纳电镜 ParticleX LB 全自动锂电清洁度分析系统可自动识别、分析和统计铜、锌、铁等金属异物,进而帮助分析异物来源,改善生产条件,减少安全事故的发生。
飞纳台式扫描电镜能谱一体机Phenom ProX
型号:电镜能谱一体机 Phenom ProX
第六代 Phenom ProX 台式扫描电镜引入了全新一代操作系统,通过改进光路设计,将分辨率提升到新高度。能谱操作界面与能谱算法进一步升级,易于操作,元素分析更快速。在满足材料表面形貌和元素分析的基础上,还可以通过软件控制硬件,实现材料分析自动化。
飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2
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全自动 ParticleX 锂电正负极杂质分析系统
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飞纳台式扫描电镜能谱一体机Phenom ProX
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品牌历史
飞纳电镜源自荷兰飞利浦电子光学部门,1949 年,全世界第一台商业化的电镜 EM100 在 PHILIPS 实验室制造完成。
全世界第一台商业化的电镜
1948
荷兰 Sioux 集团与 FEI 公司合资成立了Phenom World 公司,聚焦开发飞纳台式扫描电镜。
聚焦开发飞纳台式扫描电镜
2009
飞纳推出大仓室全自动扫描电镜 Phenom XL,样品仓尺寸 100 mm × 100 mm,可选配二次电子探测器,同时推出孔径统计分析测量系统。
推出大仓室全自动扫描电镜
2014
飞纳 CeB6 系列发布第 6 代产品,全新 UI,性能全面升级。同年发布全自动颗粒物及清洁度分析系统 ParticleX,可对杂质颗粒、金属夹杂物进行自动识别、归类。
飞纳 CeB6 系列发布第 6 代产品
2020
2006
全球第一台飞纳台式扫描电镜
FEI 发布全球第一台飞纳台式扫描电镜(Phenom Desktop SEM)。首次使用寿命长达 1500h、高亮度、低色差的 CeB6 晶体灯丝。
2012
首台电镜能谱一体机 Phenom ProX
Karel Van der Mast 教授带领原飞利浦电镜部门精英们,研发出世界首台电镜能谱一体机 Phenom ProX。同年发布 3D 粗糙度测量等功能性软件。
2018
全球第一台台式场发射扫描电镜
历时 6 年的研发,飞纳为中国用户呈现全球第一台台式场发射扫描电镜 Phenom LE,采用肖特基场发射电子枪,分辨率优于 2.5 nm,放大倍数达到 50 万倍。
2021
发布第二代台式场发射扫描电镜
发布 Diatom AI 硅藻全自动 AI 识别系统。同年 7 月,飞纳场发射电子源系列发布第二代产品,分辨率优于 1.8nm,放大倍数达到 200 万倍,全新升级“全面屏” UI 界面。