【序号】：1
【作者】：
韩培德【题名】：
半导体ZnTe／GaAs界面层错的高分辨显微分析【期刊】：
《电子显微学报》 |
【年、卷、期、起止页码】：
1998年 第2期【全文链接】：http://www.cqvip.com/QK/94421X/199802/2943636.html
【序号】：2
【作者】：阎发旺
【题名】：用高分辨率电子显微技术研究Ⅲ族氮化物半导体的特性
【期刊】：《半导体情报》 |
【年、卷、期、起止页码】：1997年 第3期
【全文链接】：http://www.cqvip.com/QK/92139X/199703/2556209.html
【序号】：3
【作者】：张冰阳 江福明
【题名】：扫描电子声显微镜在半导体材料分析中的应用
【期刊】：《半导体学报》 |
【年、卷、期、起止页码】：1996年 第9期
【全文链接】：http://www.cqvip.com/QK/94689X/199609/2335312.html
【序号】：4
【作者】：梁竹关 李亚文 肖玲 王建 周开邻 李萍 徐晓华
【题名】：用扫描电子显微镜透视半导体和集成电路
【期刊】：《电子显微学报》 |
【年、卷、期、起止页码】：2001年 第4期
【全文链接】：http://www.cqvip.com/QK/94421X/200104/5435942.html
【序号】：5
【作者】：申泽骧
【题名】：显微拉曼在硅半导体器件表征中的一些重要应用
【期刊】：《光散射学报》 |
【年、卷、期、起止页码】：2003年 第4期
【全文链接】：http://www.cqvip.com/QK/96552X/200304/8975193.html
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