找靠谱仪器,就上仪器信息网~

IC封装器件中引脚移位检测产品配置单(CNC影像)

  • 应用领域: 电子/电气/通讯/半导体
  • 检测样品: 电子元器件
  • 检测项目:引脚移位
  • 浏览次数:22 次
  • 下载次数:6 次
  • 发布时间:2019-06-16
  • 参考标准:IC封装器件引脚元器件共面性测试仪
本仪器采用强大的测量软件,能高效率的检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状,1、元器件共面性测试、引脚移位检测、引脚高度错误检测、引脚面积测量、直径、角度、不规则面积测量、手轮可调节光栅、非刺眼型光源、高精度XZ轴测距、SPC过程统计
  • 配置
  • 品牌型号
  • 参考报价
  • 前处理设备
    • 型号:EVM-G
    • 品牌:品智创思/Product intelligence and creativity
    • 产地:
    • 关注度:0
    • 完整度:
  • 100

共面性测试仪用于准确且多样性地对各种IC封装器件的引脚进行测量。引脚的共面与否、是否有移位和尺寸大小均可通过软件记录和存储。测试过程中,IC封装器件的引脚放置于LED阵列光源形成的可调节细格光栅前,器件的左右移动通过仪器侧面的手轮控制。

1560662215(1).jpg

共面性测试仪主要特点:
1
、元器件共面性测试
2
、引脚移位检测
3
、引脚高度错误检测
4
、引脚面积测量
5
、直径、角度、不规则面积测量
6
、手轮可调节光栅
7
、非刺眼型光源
8
、高精度XZ轴测距
9
SPC过程统计

共面性测试仪的应用

        软件方面,引脚成像于电脑显示器上,并可进行测量,同时通过器件的移动可逐一检测各个引脚高度是否一致,高精度的XZ轴测微距头保证了测试的准确性。所有数据可以以记事本或EXCEL表格形式存储于电脑内,方便调用。同时开放SPC过程统计功能供参考。


  • 点赞 ()

  • 收藏

  • 分享

  • 下载

贡献者的其他方案
方案贡献者

北京品智创思精密仪器有限公司

仪信通银牌会员

解决方案总数:0

方案浏览总量: 0

按类找方案