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硅片中表面形貌和表面粗糙度检测产品配置单(扫描探针)

  • 应用领域: 电子/电气/通讯/半导体
  • 检测样品: 半导体
  • 检测项目:表面形貌和表面粗糙度
  • 浏览次数:37 次
  • 下载次数:2 次
  • 发布时间:2019-05-21
  • 参考标准:硅片表面形貌测量
选用上海伯东英国 NanoMagnetics 原子力显微镜 ezAFM 进行测试. 将样品放置在样品台, 通过系统软件自动控制
  • 配置
  • 品牌型号
  • 参考报价

上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行硅片表面形貌测量和表面粗糙度测量, 便于后续进行拉曼增强.
硅片表面形貌成像图

原子力显微镜硅片表面形貌成像图

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