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电子产品中镉,铬,铅,汞检测产品配置单(微波消解仪)

  • 应用领域: 电子/电气/通讯/半导体
  • 检测样品: 电子元器件
  • 检测项目:镉,铬,铅,汞
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  • 发布时间:2019-02-14
  • 参考标准:
为了解决废弃电子产品中的有毒金属污染问题,危害性物质限(RoHS)指令规定了镉、六价铬、汞和铅在每种电子设备中允许存在的最高含量。为了达到RoHS 指令要求,最简单也最高效的方法是使用微波消解制样,并使用全谱直读等离子体发射光谱仪(ICP-OES)进行分析。尽管ICP-OES 不连接液相色谱仪无法区别元素的不同形态,但是它能够测量铬的总含量,以确定其是否超过规定水平。如果超过限值,则可以进一步制样,并采用其他技术手段分析样品。 本文将重点关注如何使用ICP-OES 分析电子产品中的多种样品类型,以确保符合RoHS 指令要求,以及制样注意事项。
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鉴于RoHS 指令涵盖的样品类型繁多,一一评估是不可能完成的。因此,我们选取具有代表性的若干种样品类型进行分析:塑料、导线绝缘层、焊料、电线和一块电路板,除焊料是全新的以外,所有样品均取自废弃的电子产品。所有样品均置于PerkinElmer Titan MPS™ 微波制样系统中消解。所有分析工作都是使用PerkinElmer Avio™ 200 ICP发射光谱仪(轴向模式)完成的。

由于RoHS 指令规定的浓度值对于Avio 200 的检测能力来讲可以轻松实现,因此可以使用更短的自动积分时间,在不影响准确度的情况下提高分析速度和样品处理量。Avio 独特FlatPlate™ 平板等离子体技术确保所有分析都是在仅需消耗8 L/min 氩气的条件下进行的。再加上

样品分析效率的提高,能够最大限度降低氩用量。

为了证明校准曲线的准确度,在读取完校准曲线后,直接对含量为RoHS 水平十分之一(溶液中)的标样进行分析。表1 显示了回收率,说明在低含量和高含量下,都能够获得准确结果。

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表1. 低含量和高含量标样回收率

本文证明Titan MPS 微波制样系统和Avio 200 ICP-OES搭配能够快速、准确测量RoHS 指令涵盖的多种类型样品中的元素含量。只要正确选择酸液,使用单一TitanMPS 程序,即可消解多种不同类型样品,最大限度简化RoHS 指令涵盖的多种类型样品的制样工艺。预消解加标

回收率证明在制样程序中,待测元素并未出现明显的流失和污染。

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