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单壁碳纳米管中金属含量检测产品配置单(ICP-AES)

  • 应用领域: 电子/电气/通讯/半导体
  • 检测样品: 综合
  • 检测项目:金属含量
  • 浏览次数:107 次
  • 下载次数:3 次
  • 发布时间:2018-08-29
  • 参考标准:
SP-ICP-MS 提供了一种单壁碳纳米管金属含量的定量方法。使用金属杂质的含量可以推测单壁碳纳米管的计数浓度,有效拓展了ICP-MS在纳米材料领域的应用。另外,一旦金属含量已知,即可测定未知样品中的单壁碳纳米管浓度。这项研究的意义是可以在无需消解碳纳米管(一个冗长繁琐的过程)的情况下准确量化碳纳米管中的金属杂质。
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随着纳米技术的应用日益频繁,各种纳米材料广泛应用于各类产品当中。碳纳米管(CNT)是使用最广泛的纳米材料之一,其年生产量高达上千吨。其生产过程通常会用到金属催化剂,因此碳纳米管表面可能残留金属纳米粒子。虽然碳纳米管成品会得以清洗,尽可能地清除残留催化剂,但依然会有少许残留物。由于残留金属会影响碳纳米管的性能,因此测定催化剂的金属残留物水平至关重要。此外,金属杂质可用作环境源和效应研究中碳纳米管的示踪物,从而克服在复杂环境和生物介质中测量碳元素的难度。

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珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司

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