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光学薄膜中薄膜厚度检测产品配置单(光纤光谱仪)

  • 应用领域: 电子/电气/通讯/半导体
  • 检测样品: 其他
  • 检测项目:薄膜厚度
  • 浏览次数:115 次
  • 下载次数:5 次
  • 发布时间:2018-08-22
  • 参考标准:材料
薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度,通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。
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  薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度,通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。
  薄膜计量学包括计算薄膜是否存在和其厚度的数学方法,这些薄膜可以通过各种方法沉积到基片材料上。该项技术适合于从轮廓测量法到椭圆测量法,光谱反射法和X射线分析的测量方法。Avantes设备和光纤采样工具有利于光学反射测量,支持从半导体到太阳能和光学镀膜等多领域测量应用。Avantes为各种基片上的单层膜或多层薄膜的测量提供低成本测量系统和解决方案。

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