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电子产品中危害性物质检测产品配置单(ICP-AES)

  • 应用领域: 电子/电气/通讯/半导体
  • 检测样品: 电子元器件
  • 检测项目:危害性物质
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  • 发布时间:2018-05-09
  • 参考标准:
为了达到 RoHS 指令要求,最简单也最高效的方法是使用微波消解制样,并使用全谱直读等离子体发射光谱仪(ICP-OES)进行分析。尽管 ICP-OES 不连接液相色谱仪无法区别元素的不同形态,但是它能够测量铬的总含量,以确定其是否超过规定水平。如果超过限值,则可以进一步制样,并采用其他技术手段分析样品,最终确定六价 Cr 的含量。
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随着人们对电子产品的依赖程度越来越高,各大厂商开始不断开发具有新功能的产品,这使得消费者日趋频繁地对电子产品进行更新换代,电子产品的寿命也变得越来越短,而这也导致需要处理的废弃电子产品数量不断上升,尽管人们已经开始实施并大力推广电子

产品回收计划。

电子产品中包含许多组件,一旦被丢弃,产品中的金属极可能会进入环境中。

其中最令人担忧的有毒金属包括镉(Cd)、铬(Cr,主要是六价铬[CrVI])、汞(Hg

和铅(Pb)。为了解决这一问题,危害性物质限制(RoHS)指令规定了镉、六

价铬、汞和铅在每种电子设备中允许存在的最高含量。

为了达到 RoHS 指令要求,最简单也最高效的方法是使用微波消解制样,并使用全谱直读等离子体发射光谱仪(ICP-OES)进行分析。尽管 ICP-OES 不连接液相色谱仪无法区别元素的不同形态,但是它能够测量铬的总含量,以确定其是否超过规定水平。如果超过限值,则可以进一步制样,并采用其他技术手段分析样品,最终确定六价 Cr 的含量。

本文将重点关注如何使用 ICP-OES 分析电子产品中的多种样品类型,以确保符合 RoHS 指令要求,以及制样注意事项。

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珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司

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