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半导体检测方案专场

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  • 半导体样品中显微分析方法检测产品配置单(扫描电镜) 推荐

    • 方案摘要:
    • FIB—SEM双束电镜应用领域: 1. 制备TEM样品 2. 截面抛光 3. 微纳米器件的制备及性能测量 4. 三维结构重构 5. 其他三维分析能力:3D EBSD, 3D EDS及SIMS
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:显微分析方法
    • 浏览次数:299次
    • 下载次数:20次
    • 发布时间:2017-11-20
    • 参考标准:
    • 3i分数:19400

    泰思肯

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:3

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  • 材料中功能分析及免疫分析检测产品配置单(分子荧光光谱) 推荐

    • 方案摘要:
    • FLS1000作为一款全新升级的稳态瞬态荧光光谱仪,代表了目前该类仪器发展的最高水平,在不同领域上,可以随意更改配置及选择功能,助力高端科学研究。 以下例举一些不同领域的相关应用。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:功能分析及免疫分析
    • 浏览次数:201次
    • 下载次数:28次
    • 发布时间:2017-11-06
    • 参考标准: -
    • 3i分数:15100

    天美

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:16

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  • 半导体样品中微纳米加工检测产品配置单(扫描电镜) 推荐

    • 方案摘要:
    • Xe等离子FIB能够实现微纳米,甚至毫米级的快速加工。Xe等离子FIB的最大束流为2μA,另外Xe离子的原子量更大,对纯Si的溅射效率比Ga离子约高30%。虽然Xe离子的溅射效率高,但是由于Xe离子的直径较大,Xe等离子束加工样品时产生的注入效应和损伤要比Ga离子束小。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:微纳米加工
    • 浏览次数:189次
    • 下载次数:13次
    • 发布时间:2017-11-20
    • 参考标准:
    • 3i分数:13650

    泰思肯

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:3

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  • 半导体中局部结构和元素组成检测产品配置单(EBSD系统) 推荐

    • 方案摘要:
    • Development and testing of semiconductor devices requires extensive knowledge of local structure and elemental composition. With feature sizes of <5 nm, it is often necessary to perform imaging an...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:局部结构和元素组成
    • 浏览次数:71次
    • 下载次数:12次
    • 发布时间:2018-01-08
    • 参考标准:
    • 3i分数:13300

    牛津仪器

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:12

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  • 半导体中结构检测产品配置单(EBSD系统) 推荐

    • 方案摘要:
    • Introduction Application Note As semiconductor devices continue to decrease in size to improve performance and take advantage of advances in fabrication techniques, there is a need to analyse both ...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:结构
    • 浏览次数:54次
    • 下载次数:9次
    • 发布时间:2018-01-08
    • 参考标准:
    • 3i分数:12550

    牛津仪器

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:12

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  • 硅中结晶度分析检测产品配置单(扫描电镜) 推荐

    • 方案摘要:
    • 目前能够很好的表征结晶情况的主要是XRD,并且是基于宏观分析,能在微区尺度对结晶度进行表征的手段则很少。而无机晶体材料的结晶度却会对特征拉曼峰产生较大的影响。因此,可以通过特征拉曼峰的宽度来对结晶度进行评判。由此可见,原位一体化的RISE对微区领域的结晶度分析提供了新的途径。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:结晶度分析
    • 浏览次数:123次
    • 下载次数:5次
    • 发布时间:2017-09-06
    • 参考标准:
    • 3i分数:10400

    泰思肯

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:3

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  • 硅片中表面形貌和表面粗糙度检测产品配置单(扫描探针) 推荐

    • 方案摘要:
    • 选用上海伯东英国 NanoMagnetics 原子力显微镜 ezAFM 进行测试. 将样品放置在样品台, 通过系统软件自动控制
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:表面形貌和表面粗糙度
    • 浏览次数:48次
    • 下载次数:2次
    • 发布时间:2019-05-21
    • 参考标准: 硅片表面形貌测量
    • 3i分数:10150

    上海伯东

    仪信通金牌会员

    此领域下方案总数:10

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  • 块状, 粉末, 薄片, 单晶和液体各种材料中磁滞回线检测产品配置单(半导体检测仪) 推荐

    • 方案摘要:
    • 上海伯东代理英国 NanoMagnetics 仪器振动样品磁强计 VSM 主要用于测量块状, 粉末, 薄片, 单晶和液体各种材料的测量. 振动样品磁强计 VSM 可完成磁滞回线, 起始磁化曲线, 退磁曲线及温度特性曲线, IRM 和 DCD 等曲线的测量. 搭配不同的高低温选件可进行磁化数据的温度函数的测量, 测定居里温度点等.
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:磁滞回线
    • 浏览次数:30次
    • 下载次数:5次
    • 发布时间:2019-05-28
    • 参考标准: 振动样品磁强计, VSM , 磁滞回线
    • 3i分数:10150

    上海伯东

    仪信通金牌会员

    此领域下方案总数:10

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  • 二维晶体材料单层二硒化钨中单光子发射现象检测产品配置单(扫描探针) 推荐

    • 方案摘要:
    • 建伟院士课题组利用attocube公司的低温强磁场光学显微镜(attoCFM)研究发现了二维晶体材料单层二硒化钨(WSe2)中存在的由于缺陷态引起的单光子发射现象。首先,通过低温磁场下对微米尺寸单层样品的光致发光谱精细扫描成...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:单光子发射现象
    • 浏览次数:96次
    • 下载次数:3次
    • 发布时间:2017-06-15
    • 参考标准:
    • 3i分数:10150

    QUANTUM量子科学

    仪信通金牌会员

    此领域下方案总数:5

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  • OLED中超精细分散极限值检测产品配置单(研磨机) 推荐

    • 方案摘要:
    • OLED基板的封装是直接影响模组寿命的关键因素之一。除了在封装过程中必需的环境条件,封装的方法之外,对于封装材的要求也有着比较高的要求。一旦封装材在固化后出现稳定性不佳,厚度不均导致变形等问题,将会直接造成成品...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:超精细分散极限值
    • 浏览次数:47次
    • 下载次数:5次
    • 发布时间:2017-03-08
    • 参考标准:
    • 3i分数:8950

    上海人和科学仪器

    仪信通银牌会员

    此领域下方案总数:5

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  • 二氧化钛中材料性能检测产品配置单(紫外分光光度)

    • 方案摘要:
    • 二氧化钛(TiO2)因为其卓越的光催化效果、化学稳 定性、无毒无害、价格低廉等优势成为材料科学领域 的研究热点。目前TiO2可应用于太阳能存储与利用、 污水处理、空气净化等领域,被认为是具有发展前 景的半导体材料。但是由...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:材料性能
    • 浏览次数:144次
    • 下载次数:10次
    • 发布时间:2018-05-28
    • 参考标准: 紫外光度计,积分球,二氧化碳,禁带宽度,半导体改性
    • 3i分数:7910

    百道亨

    仪信通银牌会员

    此领域下方案总数:3

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  • 半导体材料、电子材料、集成电路中材料带隙检测产品配置单(X光电子能谱) 推荐

    • 方案摘要:
    • Avantage 软件配有丰富的 XPS 相关数据处理功能,其中带隙测量便是功能之 一。该功能提供了一种能量损失初始位置的自动测量方法。此种方法是建立在 “光电子先进行物质带隙的克服随后才会出现非弹性能量损失现象”的假设基础 上,通过对能量损失峰进行拟合和进一步的斜率计算得到能量损失的起始位置 进而求得带隙。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:材料带隙
    • 浏览次数:45次
    • 下载次数:4次
    • 发布时间:2018-11-12
    • 参考标准: Avantage,XPS数据处理,带隙测量,ESCALAB Xi+光电子能谱仪,
    • 3i分数:7900

    赛默飞元素分析

    仪信通银牌会员

    此领域下方案总数:2

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  • 超纯半导体级硫酸中难分析元素检测产品配置单(气相色谱仪)

    • 方案摘要:
    • 近年来碰撞/反应池技术 (CRC) 广泛应用于四极杆 ICP-MS (ICP-QMS),以消除会对复杂基质中的分析物造成质谱干扰的多原子离子。利用 CRC,可以使半导体级化学品中几乎所有待测元素的背景等效浓度 (BEC) 降低至 ppt 或亚 p...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:难分析元素
    • 浏览次数:63次
    • 下载次数:5次
    • 发布时间:2018-07-15
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:7600

    安捷伦

    仪信通钻石会员

    此领域下方案总数:60

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  • 硝酸中Mg检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 任何金属杂质的存在都将对IC器件的可靠性产生不利影响。在半导体实验室进行其他半导体材料分析时也常常会使用硝酸,因此使用的硝酸需要具有高纯度和高质量。由于具有快速测定各种工艺化学品中超痕量浓度待测元素的能力,...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:Mg
    • 浏览次数:36次
    • 下载次数:4次
    • 发布时间:2017-11-26
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:7600

    PerkinElmer

    仪信通钻石会员

    此领域下方案总数:36

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  • GaN片状样品中不同靶材下元素分析检测产品配置单(X光电子能谱)

    • 方案摘要:
    • 岛津高能单色Ag靶与单色Al靶共用一个单色器,成本较低,且具备多个靶点,并处于同一靶面,因此仅通过软件即可实现切换,操作简单。可达600 W高功率的X射线源能够很大程度补偿高能靶引起的信号降低问题,对于采用高能靶的测试提供了有力保障。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:不同靶材下元素分析
    • 浏览次数:59次
    • 下载次数:5次
    • 发布时间:2019-04-26
    • 参考标准:
    • 3i分数:7600

    岛津

    仪信通钻石会员

    此领域下方案总数:13

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  • 液晶显示器背光模组中微小异物检测产品配置单(红外光谱仪)

    • 方案摘要:
    • 近几年,液晶显示器得到广泛应用,背光模组是此类显示器中的重要部件,本文介绍了使用红外显微镜法测定液晶显示器背光模组中微小异物的方法。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:微小异物
    • 浏览次数:52次
    • 下载次数:10次
    • 发布时间:2017-11-14
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:7350

    岛津

    仪信通钻石会员

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  • 石墨中理化分析检测产品配置单(微波消解仪)

    • 方案摘要:
    • 为了检测石墨中的重金属元素,采用微波消解的方法对其进行前处理,本方法消解迅速,酸用量少,酸雾污染小,有利于AAS、ICP等对石墨粉中痕量重金属元素的准确快速测定。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:理化分析
    • 浏览次数:30次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2019-05-16
    • 参考标准: 见资料
    • 3i分数:7350

    海能仪器

    仪信通钻石会员

    此领域下方案总数:9

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  • 有机场效应晶体管中累积电荷分布检测产品配置单(其它光谱仪) 【刊物发表】

    • 方案摘要:
    • 采用立陶宛Ekspla公司的由PL2231-50型脉冲皮秒激光器,PG501-DFG1P高能光学参量发生器构成的和频光谱测量系统,对有机场效应晶体管半导体/绝缘体界面处累积电荷分布进行了实验测量研究。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:累积电荷分布
    • 浏览次数:25次
    • 下载次数:4次
    • 发布时间:2019-03-07
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:6950

    欧兰科技

    仪信通银牌会员

    此领域下方案总数:14

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  • OFET器件半导体/绝缘体界面中和频光谱测量检测产品配置单(其它光谱仪)

    • 方案摘要:
    • 采用立陶宛Ekspla公司PL2230型脉冲皮秒激光器和PG501-DFG1P型皮秒光学参量发生器构成的和频光谱测量系统(SFG)对运行中的OFET器件半导体/绝缘体界面处电荷活动状态进行了可视化测量。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:和频光谱测量
    • 浏览次数:33次
    • 下载次数:3次
    • 发布时间:2019-03-07
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:6950

    欧兰科技

    仪信通银牌会员

    此领域下方案总数:14

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  • 单晶铁与单晶硅中损伤层检测产品配置单(扫描电镜)

    • 方案摘要:
    • 日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam(选配)技术,推出了新一代产品NX2000。运用高对比度,实时SEM观察和加工终点检测功能,可制备厚度小于20 nm的超薄样品。加工方向...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:损伤层
    • 浏览次数:113次
    • 下载次数:9次
    • 发布时间:2019-05-30
    • 参考标准: NX2000
    • 3i分数:6850

    日立高新

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:6

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