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半导体检测方案专场

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  • 半导体样品中显微分析方法检测产品配置单(扫描电镜) 推荐

    • 方案摘要:
    • FIB—SEM双束电镜应用领域: 1. 制备TEM样品 2. 截面抛光 3. 微纳米器件的制备及性能测量 4. 三维结构重构 5. 其他三维分析能力:3D EBSD, 3D EDS及SIMS
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:显微分析方法
    • 浏览次数:124次
    • 下载次数:8次
    • 发布时间:2017-11-20
    • 参考标准:
    • 3i分数:11415

    泰思肯

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    此领域下方案总数:3

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  • 材料中功能分析及免疫分析检测产品配置单(分子荧光光谱) 推荐

    • 方案摘要:
    • FLS1000作为一款全新升级的稳态瞬态荧光光谱仪,代表了目前该类仪器发展的最高水平,在不同领域上,可以随意更改配置及选择功能,助力高端科学研究。 以下例举一些不同领域的相关应用。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:功能分析及免疫分析
    • 浏览次数:126次
    • 下载次数:11次
    • 发布时间:2017-11-06
    • 参考标准: -
    • 3i分数:10050

    天美

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:16

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  • 半导体样品中微纳米加工检测产品配置单(扫描电镜) 推荐

    • 方案摘要:
    • Xe等离子FIB能够实现微纳米,甚至毫米级的快速加工。Xe等离子FIB的最大束流为2μA,另外Xe离子的原子量更大,对纯Si的溅射效率比Ga离子约高30%。虽然Xe离子的溅射效率高,但是由于Xe离子的直径较大,Xe等离子束加工样品时产生的注入效应和损伤要比Ga离子束小。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:微纳米加工
    • 浏览次数:101次
    • 下载次数:5次
    • 发布时间:2017-11-20
    • 参考标准:
    • 3i分数:8915

    泰思肯

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    此领域下方案总数:3

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  • 硅中结晶度分析检测产品配置单(扫描电镜) 推荐

    • 方案摘要:
    • 目前能够很好的表征结晶情况的主要是XRD,并且是基于宏观分析,能在微区尺度对结晶度进行表征的手段则很少。而无机晶体材料的结晶度却会对特征拉曼峰产生较大的影响。因此,可以通过特征拉曼峰的宽度来对结晶度进行评判。由此可见,原位一体化的RISE对微区领域的结晶度分析提供了新的途径。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:结晶度分析
    • 浏览次数:70次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2017-09-06
    • 参考标准:
    • 3i分数:8915

    泰思肯

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:3

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  • 二维晶体材料单层二硒化钨中单光子发射现象检测产品配置单(扫描探针) 推荐

    • 方案摘要:
    • 建伟院士课题组利用attocube公司的低温强磁场光学显微镜(attoCFM)研究发现了二维晶体材料单层二硒化钨(WSe2)中存在的由于缺陷态引起的单光子发射现象。首先,通过低温磁场下对微米尺寸单层样品的光致发光谱精细扫描成...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:单光子发射现象
    • 浏览次数:71次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2017-06-15
    • 参考标准:
    • 3i分数:8665

    QUANTUM量子科学

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    此领域下方案总数:5

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  • OLED中超精细分散极限值检测产品配置单(研磨机) 推荐

    • 方案摘要:
    • OLED基板的封装是直接影响模组寿命的关键因素之一。除了在封装过程中必需的环境条件,封装的方法之外,对于封装材的要求也有着比较高的要求。一旦封装材在固化后出现稳定性不佳,厚度不均导致变形等问题,将会直接造成成品...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:超精细分散极限值
    • 浏览次数:39次
    • 下载次数:2次
    • 发布时间:2017-03-08
    • 参考标准:
    • 3i分数:6465

    上海人和科学仪器

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:5

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  • 半导体中结构检测产品配置单(EBSD系统) 推荐

    • 方案摘要:
    • Introduction Application Note As semiconductor devices continue to decrease in size to improve performance and take advantage of advances in fabrication techniques, there is a need to analyse both ...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:结构
    • 浏览次数:40次
    • 下载次数:3次
    • 发布时间:2018-01-08
    • 参考标准:
    • 3i分数:6465

    牛津仪器

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:6

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  • 半导体中局部结构和元素组成检测产品配置单(EBSD系统) 推荐

    • 方案摘要:
    • Development and testing of semiconductor devices requires extensive knowledge of local structure and elemental composition. With feature sizes of <5 nm, it is often necessary to perform imaging an...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:局部结构和元素组成
    • 浏览次数:41次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2018-01-08
    • 参考标准:
    • 3i分数:6465

    牛津仪器

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    此领域下方案总数:6

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  • 硅片中表面形貌和表面粗糙度检测产品配置单(扫描探针) 推荐

    • 方案摘要:
    • 选用上海伯东英国 NanoMagnetics 原子力显微镜 ezAFM 进行测试. 将样品放置在样品台, 通过系统软件自动控制
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:表面形貌和表面粗糙度
    • 浏览次数:4次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2019-05-21
    • 参考标准: 硅片表面形貌测量
    • 3i分数:6215

    上海伯东

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    此领域下方案总数:8

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  • GaN片状样品中不同靶材下元素分析检测产品配置单(X光电子能谱)

    • 方案摘要:
    • 岛津高能单色Ag靶与单色Al靶共用一个单色器,成本较低,且具备多个靶点,并处于同一靶面,因此仅通过软件即可实现切换,操作简单。可达600 W高功率的X射线源能够很大程度补偿高能靶引起的信号降低问题,对于采用高能靶的测试提供了有力保障。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:不同靶材下元素分析
    • 浏览次数:21次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2019-04-26
    • 参考标准:
    • 3i分数:6115

    岛津

    仪信通钻石会员

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  • 半导体中金属元素检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • ICPMS自动校准|注射泵在线稀释|低背景等效浓度 高重现性|实时监测所有化学物质|对污染事件立即检测 实时控制数据|减少人员与有毒化学试剂的接触 灵活的数据报告模式,包括SECS-GEM
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:金属元素
    • 浏览次数:25次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2018-12-04
    • 参考标准: 半导体痕量金属元素检测
    • 3i分数:5550

    上海凯来

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  • 超纯半导体级硫酸中难分析元素检测产品配置单(气相色谱仪)

    • 方案摘要:
    • 近年来碰撞/反应池技术 (CRC) 广泛应用于四极杆 ICP-MS (ICP-QMS),以消除会对复杂基质中的分析物造成质谱干扰的多原子离子。利用 CRC,可以使半导体级化学品中几乎所有待测元素的背景等效浓度 (BEC) 降低至 ppt 或亚 p...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:难分析元素
    • 浏览次数:27次
    • 下载次数:2次
    • 发布时间:2018-07-15
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:5550

    安捷伦

    仪信通钻石会员

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  • 有机场效应晶体管中累积电荷分布检测产品配置单(其它光谱仪) 【刊物发表】

    • 方案摘要:
    • 采用立陶宛Ekspla公司的由PL2231-50型脉冲皮秒激光器,PG501-DFG1P高能光学参量发生器构成的和频光谱测量系统,对有机场效应晶体管半导体/绝缘体界面处累积电荷分布进行了实验测量研究。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:累积电荷分布
    • 浏览次数:15次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2019-03-07
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:5465

    欧兰科技

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    此领域下方案总数:12

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  • OFET器件半导体/绝缘体界面中和频光谱测量检测产品配置单(其它光谱仪)

    • 方案摘要:
    • 采用立陶宛Ekspla公司PL2230型脉冲皮秒激光器和PG501-DFG1P型皮秒光学参量发生器构成的和频光谱测量系统(SFG)对运行中的OFET器件半导体/绝缘体界面处电荷活动状态进行了可视化测量。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:和频光谱测量
    • 浏览次数:17次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2019-03-07
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:5465

    欧兰科技

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  • N-甲基-2-吡咯烷酮 (NMP)中痕量的硫检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • N-甲基-2-吡咯烷酮 (NMP),化学分子式为 C5H9NO,是一种化学性质稳定的水溶性有机溶剂,广泛应用于制药、石化、高分子科学,特别是半导体行业中。电子级 NMP 通常被半导体生产商用作晶片清洗剂和光刻胶剥离剂,以及用作和晶...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:痕量的硫
    • 浏览次数:20次
    • 下载次数:2次
    • 发布时间:2018-11-26
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:5115

    安捷伦

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  • 液晶显示器背光模组中微小异物检测产品配置单(红外光谱仪)

    • 方案摘要:
    • 近几年,液晶显示器得到广泛应用,背光模组是此类显示器中的重要部件,本文介绍了使用红外显微镜法测定液晶显示器背光模组中微小异物的方法。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:微小异物
    • 浏览次数:43次
    • 下载次数:3次
    • 发布时间:2017-11-14
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:5115

    岛津

    仪信通钻石会员

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  • 半导体级盐酸中杂质检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)具备精确测定纳克/ 升(ng/L,PPT)甚至更低浓度元素含量的能力,是最适合测量痕量及超痕量金属的技术。然而,常规的测定条件下,氩、氧、氢离子会与酸基体相结合,对待测元素产生多原子离子干扰。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:杂质
    • 浏览次数:109次
    • 下载次数:15次
    • 发布时间:2017-05-23
    • 参考标准: SEMI 标准C27-07081 用于盐酸
    • 3i分数:5115

    PerkinElmer

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    此领域下方案总数:35

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  • 硝酸中Mg检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 任何金属杂质的存在都将对IC器件的可靠性产生不利影响。在半导体实验室进行其他半导体材料分析时也常常会使用硝酸,因此使用的硝酸需要具有高纯度和高质量。由于具有快速测定各种工艺化学品中超痕量浓度待测元素的能力,...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:Mg
    • 浏览次数:18次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2017-11-26
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:5115

    PerkinElmer

    仪信通钻石会员

    此领域下方案总数:35

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  • 硝酸中Na检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 任何金属杂质的存在都将对IC器件的可靠性产生不利影响。在半导体实验室进行其他半导体材料分析时也常常会使用硝酸,因此使用的硝酸需要具有高纯度和高质量。由于具有快速测定各种工艺化学品中超痕量浓度待测元素的能力,...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:Na
    • 浏览次数:27次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2017-11-26
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:5115

    PerkinElmer

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    此领域下方案总数:35

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  • ITO薄膜中透过率检测产品配置单(近红外光谱仪)

    • 方案摘要:
    • 有机发光二极管(organic light-emitting diode,简称OLED)又称为有机发光半导体,具有自发光、广视角、几乎无穷高的对比度、较低能耗、极高反应速度等显著的优点。OLED通常由多层功能材料成膜镀在基底上所构成,这些功能膜层包括阴阳电极,以及两极间的导电和光发射有机材料。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:透过率
    • 浏览次数:69次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2017-08-28
    • 参考标准:
    • 3i分数:4615

    海洋光学

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    此领域下方案总数:10

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  • 石墨中理化分析检测产品配置单(微波消解仪)

    • 方案摘要:
    • 为了检测石墨中的重金属元素,采用微波消解的方法对其进行前处理,本方法消解迅速,酸用量少,酸雾污染小,有利于AAS、ICP等对石墨粉中痕量重金属元素的准确快速测定。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:理化分析
    • 浏览次数:5次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2019-05-16
    • 参考标准: 见资料
    • 3i分数:4465

    海能仪器

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    此领域下方案总数:8

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  • 半导体和微电子设备中微观结构检测产品配置单(立体显微镜)

    • 方案摘要:
    • 使用扫描电镜研究半导体和微电子设备时,需要尽可能的获取最全面的信息。因此灵活地选择和使用操作参数(加 速电压、样品倾斜, 扫描时间等), 以及采取正确的分析方法,都是非常重要的。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:微观结构
    • 浏览次数:12次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2018-10-17
    • 参考标准: 国际标准
    • 3i分数:4415

    欧波同

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:2

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  • 半导体研磨剂中理化检测产品配置单(微波消解仪)

    • 方案摘要:
    • 对于成分未知且较为复杂的半导体研磨剂,硫磷混酸加氢氟酸的体系表现出极强的消解效果,可以将样品完全消解至无色透明状态。新仪TANK系列密闭微波消解仪消解此类研磨剂的极限在0.2g左右。此方法只针对新仪各系列密闭微波消解仪,切勿直接套用。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:理化
    • 浏览次数:16次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2018-12-11
    • 参考标准: 见资料
    • 3i分数:3665

    海能仪器

    仪信通钻石会员

    此领域下方案总数:8

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  • 不定形硅中结晶化检测产品配置单(激光产品) 【刊物发表】

    • 方案摘要:
    • 采用立陶宛Ekspla公司的NL303G型激光器的基频1064nm,10Hz输出重复频率,利用分光技术分成两束,然后在一个2X2平方毫米的区域内形成强度周期性变化的干涉条纹,并利用这一光束进行不定形硅的结晶化处理。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:结晶化
    • 浏览次数:18次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2019-02-01
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:3665

    欧兰科技

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    此领域下方案总数:12

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  • 硝酸中Be检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 任何金属杂质的存在都将对IC器件的可靠性产生不利影响。在半导体实验室进行其他半导体材料分析时也常常会使用硝酸,因此使用的硝酸需要具有高纯度和高质量。由于具有快速测定各种工艺化学品中超痕量浓度待测元素的能力,...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:Be
    • 浏览次数:19次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2017-11-26
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:3665

    PerkinElmer

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  • 硝酸中Li检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 任何金属杂质的存在都将对IC器件的可靠性产生不利影响。在半导体实验室进行其他半导体材料分析时也常常会使用硝酸,因此使用的硝酸需要具有高纯度和高质量。由于具有快速测定各种工艺化学品中超痕量浓度待测元素的能力,...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:Li
    • 浏览次数:23次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2017-11-26
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:3665

    PerkinElmer

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  • 半导体级盐酸中杂质AsO检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)具备精确测定纳克/ 升(ng/L,PPT)甚至更低浓度元素含量的能力,是最适合测量痕量及超痕量金属的技术。然而,常规的测定条件下,氩、氧、氢离子会与酸基体相结合,对待测元素产生多原子离子干扰。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:杂质AsO
    • 浏览次数:27次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2017-10-26
    • 参考标准: SEMI 标准C27-07081 用于盐酸
    • 3i分数:3665

    PerkinElmer

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  • 半导体级盐酸中杂质Mo检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)具备精确测定纳克/ 升(ng/L,PPT)甚至更低浓度元素含量的能力,是最适合测量痕量及超痕量金属的技术。然而,常规的测定条件下,氩、氧、氢离子会与酸基体相结合,对待测元素产生多原子离子干扰。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:杂质Mo
    • 浏览次数:21次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2017-10-26
    • 参考标准: SEMI 标准C27-07081 用于盐酸
    • 3i分数:3665

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  • 半导体级盐酸中杂质Pt检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)具备精确测定纳克/ 升(ng/L,PPT)甚至更低浓度元素含量的能力,是最适合测量痕量及超痕量金属的技术。然而,常规的测定条件下,氩、氧、氢离子会与酸基体相结合,对待测元素产生多原子离子干扰。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:杂质Pt
    • 浏览次数:25次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2017-10-26
    • 参考标准: SEMI 标准C27-07081 用于盐酸
    • 3i分数:3665

    PerkinElmer

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  • 半导体级盐酸中杂质Bi检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)具备精确测定纳克/ 升(ng/L,PPT)甚至更低浓度元素含量的能力,是最适合测量痕量及超痕量金属的技术。然而,常规的测定条件下,氩、氧、氢离子会与酸基体相结合,对待测元素产生多原子离子干扰。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:杂质Bi
    • 浏览次数:57次
    • 下载次数:2次
    • 发布时间:2017-10-26
    • 参考标准: SEMI 标准C27-07081 用于盐酸
    • 3i分数:3665

    PerkinElmer

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