半导体检测方案专场

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  • 半导体样品中显微分析方法检测产品配置单(扫描电镜) 推荐

    • 方案摘要:
    • FIB—SEM双束电镜应用领域: 1. 制备TEM样品 2. 截面抛光 3. 微纳米器件的制备及性能测量 4. 三维结构重构 5. 其他三维分析能力:3D EBSD, 3D EDS及SIMS
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:显微分析方法
    • 浏览次数:419次
    • 下载次数:21次
    • 发布时间:2017-11-20
    • 参考标准:
    • 3i分数:9350

    泰思肯

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:3

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  • 半导体中结构检测产品配置单(EBSD系统) 推荐

    • 方案摘要:
    • Introduction Application Note As semiconductor devices continue to decrease in size to improve performance and take advantage of advances in fabrication techniques, there is a need to analyse both ...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:结构
    • 浏览次数:66次
    • 下载次数:9次
    • 发布时间:2018-01-08
    • 参考标准:
    • 3i分数:9065

    牛津仪器

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:12

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  • 半导体样品中微纳米加工检测产品配置单(扫描电镜) 推荐

    • 方案摘要:
    • Xe等离子FIB能够实现微纳米,甚至毫米级的快速加工。Xe等离子FIB的最大束流为2μA,另外Xe离子的原子量更大,对纯Si的溅射效率比Ga离子约高30%。虽然Xe离子的溅射效率高,但是由于Xe离子的直径较大,Xe等离子束加工样品时产生的注入效应和损伤要比Ga离子束小。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:微纳米加工
    • 浏览次数:262次
    • 下载次数:13次
    • 发布时间:2017-11-20
    • 参考标准:
    • 3i分数:8915

    泰思肯

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:3

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  • 材料中功能分析及免疫分析检测产品配置单(分子荧光光谱) 推荐

    • 方案摘要:
    • FLS1000作为一款全新升级的稳态瞬态荧光光谱仪,代表了目前该类仪器发展的最高水平,在不同领域上,可以随意更改配置及选择功能,助力高端科学研究。 以下例举一些不同领域的相关应用。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:功能分析及免疫分析
    • 浏览次数:251次
    • 下载次数:28次
    • 发布时间:2017-11-06
    • 参考标准: -
    • 3i分数:8615

    天美

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:16

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  • 半导体中局部结构和元素组成检测产品配置单(EBSD系统) 推荐

    • 方案摘要:
    • Development and testing of semiconductor devices requires extensive knowledge of local structure and elemental composition. With feature sizes of <5 nm, it is often necessary to perform imaging an...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:局部结构和元素组成
    • 浏览次数:85次
    • 下载次数:12次
    • 发布时间:2018-01-08
    • 参考标准:
    • 3i分数:8065

    牛津仪器

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:12

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  • 硅中结晶度分析检测产品配置单(扫描电镜) 推荐

    • 方案摘要:
    • 目前能够很好的表征结晶情况的主要是XRD,并且是基于宏观分析,能在微区尺度对结晶度进行表征的手段则很少。而无机晶体材料的结晶度却会对特征拉曼峰产生较大的影响。因此,可以通过特征拉曼峰的宽度来对结晶度进行评判。由此可见,原位一体化的RISE对微区领域的结晶度分析提供了新的途径。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:结晶度分析
    • 浏览次数:178次
    • 下载次数:5次
    • 发布时间:2017-09-06
    • 参考标准:
    • 3i分数:7915

    泰思肯

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:3

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  • SiO2与SiO2、化合物半导体与化合物半导体中晶圆键合质量检测产品配置单(超声波探伤仪) 推荐

    • 方案摘要:
    • 用于检测:SiO2与SiO2、Si与Si、玻璃与玻璃、化合物半导体与化合物半导体、金属与金属等各种晶圆键合的,质量检测方案;以及晶圆键合工艺优化和新建键合产线的设备方案。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:晶圆键合质量
    • 浏览次数:5次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2020-01-13
    • 参考标准: 晶圆键合
    • 3i分数:7080

    ASTchian

    仪信通铜牌会员

    此领域下方案总数:1

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  • 半导体中失效分析检测产品配置单(X射线能谱仪)

    • 方案摘要:
    • 纳米级电学性质表征是了解半导体器件性能和潜在失效机制的关键。原子力显微镜(AFM)是纳米级电学性质表征的一种广泛应用技术。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:失效分析
    • 浏览次数:18次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2019-07-31
    • 参考标准:
    • 3i分数:6515

    牛津仪器

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:12

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  • OLED中超精细分散极限值检测产品配置单(研磨机) 推荐

    • 方案摘要:
    • OLED基板的封装是直接影响模组寿命的关键因素之一。除了在封装过程中必需的环境条件,封装的方法之外,对于封装材的要求也有着比较高的要求。一旦封装材在固化后出现稳定性不佳,厚度不均导致变形等问题,将会直接造成成品...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:超精细分散极限值
    • 浏览次数:63次
    • 下载次数:5次
    • 发布时间:2017-03-08
    • 参考标准:
    • 3i分数:6215

    上海人和科学仪器

    仪信通银牌会员

    此领域下方案总数:6

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  • 硅片中表面形貌和表面粗糙度检测产品配置单(扫描探针) 推荐

    • 方案摘要:
    • 选用上海伯东英国 NanoMagnetics 原子力显微镜 ezAFM 进行测试. 将样品放置在样品台, 通过系统软件自动控制
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:表面形貌和表面粗糙度
    • 浏览次数:60次
    • 下载次数:2次
    • 发布时间:2019-05-21
    • 参考标准: 硅片表面形貌测量
    • 3i分数:6215

    上海伯东

    仪信通金牌会员

    此领域下方案总数:10

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  • 块状, 粉末, 薄片, 单晶和液体各种材料中磁滞回线检测产品配置单(半导体检测仪) 推荐

    • 方案摘要:
    • 上海伯东代理英国 NanoMagnetics 仪器振动样品磁强计 VSM 主要用于测量块状, 粉末, 薄片, 单晶和液体各种材料的测量. 振动样品磁强计 VSM 可完成磁滞回线, 起始磁化曲线, 退磁曲线及温度特性曲线, IRM 和 DCD 等曲线的测量. 搭配不同的高低温选件可进行磁化数据的温度函数的测量, 测定居里温度点等.
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:磁滞回线
    • 浏览次数:50次
    • 下载次数:5次
    • 发布时间:2019-05-28
    • 参考标准: 振动样品磁强计, VSM , 磁滞回线
    • 3i分数:6215

    上海伯东

    仪信通金牌会员

    此领域下方案总数:10

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  • 二维晶体材料单层二硒化钨中单光子发射现象检测产品配置单(扫描探针) 推荐

    • 方案摘要:
    • 建伟院士课题组利用attocube公司的低温强磁场光学显微镜(attoCFM)研究发现了二维晶体材料单层二硒化钨(WSe2)中存在的由于缺陷态引起的单光子发射现象。首先,通过低温磁场下对微米尺寸单层样品的光致发光谱精细扫描成...
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:单光子发射现象
    • 浏览次数:116次
    • 下载次数:3次
    • 发布时间:2017-06-15
    • 参考标准:
    • 3i分数:6215

    QUANTUM量子科学

    仪信通金牌会员

    此领域下方案总数:5

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  • 半导体材料、电子材料、集成电路中材料带隙检测产品配置单(X光电子能谱) 推荐

    • 方案摘要:
    • Avantage 软件配有丰富的 XPS 相关数据处理功能,其中带隙测量便是功能之 一。该功能提供了一种能量损失初始位置的自动测量方法。此种方法是建立在 “光电子先进行物质带隙的克服随后才会出现非弹性能量损失现象”的假设基础 上,通过对能量损失峰进行拟合和进一步的斜率计算得到能量损失的起始位置 进而求得带隙。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:材料带隙
    • 浏览次数:69次
    • 下载次数:4次
    • 发布时间:2018-11-12
    • 参考标准: Avantage,XPS数据处理,带隙测量,ESCALAB Xi+光电子能谱仪,
    • 3i分数:6015

    赛默飞元素分析

    仪信通银牌会员

    此领域下方案总数:2

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  • 半导体材料中故障分析检测产品配置单(数码显微镜) 推荐

    • 方案摘要:
    • 用户可以使用微球显微镜(超高分辨率显微镜)通过光学方式检查样品,获得由裂缝或灯丝桥引起的纳米级故障。用户还可以检查样品是否符合预期尺寸、形状以及它们的图形/布局,并保留光学显微镜的所有优势——快速、样品无损、全真彩色。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:故障分析
    • 浏览次数:20次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2019-12-10
    • 参考标准: 国际标准
    • 3i分数:5925

    铂瑞达

    仪信通金牌会员

    此领域下方案总数:2

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  • 半导体级盐酸中杂质Nb检测产品配置单(等离子体质谱)

    • 方案摘要:
    • 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)具备精确测定纳克/ 升(ng/L,PPT)甚至更低浓度元素含量的能力,是最适合测量痕量及超痕量金属的技术。然而,常规的测定条件下,氩、氧、氢离子会与酸基体相结合,对待测元素产生多原子离子干扰。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:杂质Nb
    • 浏览次数:135次
    • 下载次数:11次
    • 发布时间:2017-10-26
    • 参考标准: SEMI 标准C27-07081 用于盐酸
    • 3i分数:5115

    PerkinElmer

    仪信通钻石会员

    此领域下方案总数:36

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  • 半导体中制造检测产品配置单(镀膜机)

    • 方案摘要:
    • 高性能电动汽车等高新技术领域对高效动力转换的需求与日俱增,在这些领域高效动力转换必不可少。SiC 和 GaN 材料的使用降低了能耗。牛津仪器通过原子层沉积(ALD)技术、等离子体辅助蚀刻和沉积技术优化了工艺,提高了器件的能效。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:制造
    • 浏览次数:39次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2019-07-31
    • 参考标准:
    • 3i分数:5065

    牛津仪器

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:12

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  • 半导体中监测和过程控制检测产品配置单(X射线部件)

    • 方案摘要:
    • 硬盘中磁盘故障和读写头崩溃的最大原因之一是存在异物和污染物颗粒。了解这些杂质颗粒的来源是确保产品和工艺可靠性的关键。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:监测和过程控制
    • 浏览次数:12次
    • 下载次数:0次
    • 发布时间:2019-07-31
    • 参考标准:
    • 3i分数:5065

    牛津仪器

    仪信通白金会员

    此领域下方案总数:12

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  • ITO薄膜中透过率检测产品配置单(近红外光谱仪)

    • 方案摘要:
    • 有机发光二极管(organic light-emitting diode,简称OLED)又称为有机发光半导体,具有自发光、广视角、几乎无穷高的对比度、较低能耗、极高反应速度等显著的优点。OLED通常由多层功能材料成膜镀在基底上所构成,这些功能膜层包括阴阳电极,以及两极间的导电和光发射有机材料。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:透过率
    • 浏览次数:169次
    • 下载次数:6次
    • 发布时间:2017-08-28
    • 参考标准:
    • 3i分数:4615

    海洋光学

    仪信通钻石会员

    此领域下方案总数:11

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  • 有机场效应晶体管中累积电荷分布检测产品配置单(其它光谱仪) 【刊物发表】

    • 方案摘要:
    • 采用立陶宛Ekspla公司的由PL2231-50型脉冲皮秒激光器,PG501-DFG1P高能光学参量发生器构成的和频光谱测量系统,对有机场效应晶体管半导体/绝缘体界面处累积电荷分布进行了实验测量研究。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:累积电荷分布
    • 浏览次数:35次
    • 下载次数:4次
    • 发布时间:2019-03-07
    • 参考标准: 暂无
    • 3i分数:4465

    欧兰科技

    仪信通银牌会员

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  • 石墨中理化分析检测产品配置单(微波消解仪)

    • 方案摘要:
    • 为了检测石墨中的重金属元素,采用微波消解的方法对其进行前处理,本方法消解迅速,酸用量少,酸雾污染小,有利于AAS、ICP等对石墨粉中痕量重金属元素的准确快速测定。
    • 应用领域:电子/电气/通讯/半导体
    • 检测样品: 半导体
    • 检测项:理化分析
    • 浏览次数:49次
    • 下载次数:1次
    • 发布时间:2019-05-16
    • 参考标准: 见资料
    • 3i分数:4465

    海能仪器

    仪信通钻石会员

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