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日立
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X射线荧光测厚仪是一种用于非破坏性金属薄板、管壁、涂层等材料厚度测量的仪器。它通过发射高能X射线,使样品中的原子和分子受到激发,产生荧光,然后通过检测荧光信号的强度和能量,来确定样品材料厚度。 X射线荧光测厚仪可以适用于各种金属材料,包括钢铁、铜、铝、镍、锌、钛等,并且可以对厚度在0.01mm至200mm之间的材料进行精确测量。它不仅可用于实验室内部的质量控制和研究开发,也广泛应用于工业生产中的质量检验和控制。
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2023年12月上市
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品牌:赛默飞
型号:Trace1300 E
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