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仪器信息网 3i讲堂 集成电路静电放电失效分析与评价
1 1 投诉 分享 28 2024-05-14
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集成电路静电放电失效分析与评价

所属会议:第三届半导体工艺及封装检测新技术网络会议
报告聚焦集成电路静电放电失效分析与评价技术，介绍了生产工序中典型的静电风险来源以及静电放电诱发失效的放电路径、失效类型和深层机理过程；以真实工程案例为基础，介绍了在产线失效或者客退品分析工作中，如何排查静电诱发失效并进行整改的工作思路和技巧；最后，介绍了集成电路的静电放电能力评价方法和相应的防护措施。

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何胜宗
高级工程师

工业和信息化部电子第五研究所
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