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EM RES102制备TEM离子减薄样品应用技巧及应用实例

主讲人:谢佩松 徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 上传时间:2017/07/20 13:35
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课程描述:

离子减薄技术是一种常见的透射电镜制样技术,其原理是利用高能氩离子轰击Ø3mm样品,获得纳米级薄区供后续TEM观察使用。这一方法在金属材料以及无机非金属材料科学领域都有着非常广泛的应用。但众所周知,离子减薄也是一个技巧性很高的技术:样品的前处理、离子枪加速电压、电流、离子入射角度的选择等等,都对实验成功与否起着至关重要的作用。

本次讲座,以Leica EM RES102型离子减薄仪仪器载体,展示不同样品的实验结果,并详细介绍所涉及的实验技巧,让听众得以充分了解离子减薄的应用范围,同时也能够学习到相应制样技巧。

讲师简介:

徕卡电镜制样超薄切片技术应用专家 11年超薄切片实践经验,先后4次前往徕卡纳米技术部总部参与学习培训;并多次作为上机指导老师参与国内徕卡超薄切片workshop活动;在材料科学领域,不论是有机高分子材料,还是无机固体材料等都积累有丰富的超薄切片经验。

相关领域:

(地矿)-(综合)

相关仪器:

(光学仪器及设备)-(电子显微镜)-(电镜制样设备)

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