首页 3i讲堂颗粒表征样品准备与测量数据统计的一般知识

颗粒表征样品准备与测量数据统计的一般知识

会议时间: 2020-01-10 10:00

主讲老师: 许人良 | 颗粒表征专家

所在公司: 麦克默瑞提克(上海）仪器有限公司

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报告介绍主讲老师

报告介绍

在颗粒材料的研发、制备、生产、应用中，材料的物理特性表征是必不可少的。

各类颗粒表征技术的第一步是样品的准备，包括取样、样品分割、与样品分散。如果样品准备不正确，则可能用了最先进的仪器与分析手段，得到了正确的测量数据，可是却得到错误的表征结果。得到测量结果后，如何进行数据的统计表述，也是经常遇到的实际问题。此讲座将重点讨论这两方面的一些基本知识。

因为会议人数名额的限制，如果想听的老师，请您加麦克市场部微信：13361877513，我将您邀请进去，谢谢。

主讲老师

许人良

国际标准化组织(ISO) 颗粒表征专家

1980年代前往美国就学，受教于20世纪物理化学大师彼得·德拜的关门弟子、光散射巨擘朱鹏年和国际荧光物理化学权威魏尼克的门下，获博士及MBA学位。曾在多家跨国企业内任研发与管理等职位，包括美国贝克曼库尔特仪器公司颗粒部全球技术总监，英国马尔文仪器公司亚太区技术总监，美国麦克仪器公司中国区总经理，资深首席科学家。也曾任中国数所大学的兼职教授。

· 国际标准化组织资深专家与召集人，执笔与主持多个颗粒表征国际标准

· 美国标准测试材料学会与美国化学学会的获奖者

· 中国颗粒学会高级理事，颗粒测试专业委员会常务理事

· 中国3个全国专业标准化技术委员会的委员

· 与中国颗粒学会共同主持设立了《麦克仪器-中国颗粒学报最佳论文奖》

浸淫颗粒表征近半个世纪，除去70多篇专业学术论文、SCI援引近5000、数个美国专利之外，著有400页业内经典英文专著《Particle Characterization： Light Scattering Methods》（2001年出版），以及即将由化学工业出版社出版的《颗粒表征的光学技术及应用》。

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