网络讲堂
当前位置:首页 > 网络讲堂> EM RES102制备TEM离子减薄样品应用技巧及应用实例
会议介绍

EM RES102制备TEM离子减薄样品应用技巧及应用实例

时间:2017-07-20 10:00 | 人数上限:120   | 讲师:谢佩松  | 人气:2969

徕卡电镜制样超薄切片技术应用专家 11年超薄切片实践经验,先后4次前往徕卡纳米技术部总部参与学习培训;并多次作为上机指导老师参与国内徕卡超薄切片workshop活动;在材料科学领域,不论是有机高分子材料,还是无机固体材料等都积累有丰富的超薄切片经验。

内容简介

主题讲座

离子减薄技术是一种常见的透射电镜制样技术,其原理是利用高能氩离子轰击Ø3mm样品,获得纳米级薄区供后续TEM观察使用。这一方法在金属材料以及无机非金属材料科学领域都有着非常广泛的应用。但众所周知,离子减薄也是一个技巧性很高的技术:样品的前处理、离子枪加速电压、电流、离子入射角度的选择等等,都对实验成功与否起着至关重要的作用。

本次讲座,以Leica EM RES102型离子减薄仪仪器载体,展示不同样品的实验结果,并详细介绍所涉及的实验技巧,让听众得以充分了解离子减薄的应用范围,同时也能够学习到相应制样技巧。

参会报名

开课时间:2017-07-20 10:00 (教室于 2017/7/20 9:30:00开放) 会议时长: 2小时
报名条件:只要您是仪器信息网注册用户均可参加!
环境配置:只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。(需要进行音频交流的用户需准备麦克)
人数限制:120
提问时间:您可在论坛的宣传贴中先行提问,截至时间为 2017-07-20
相关领域:-
相关仪器:光学仪器及设备-电子显微镜-电镜制样设备

手机扫码,快速报名!

  • 扫描二维码,手机报名。
参与会议、了解最新会议、视频回放动态,请及时加入仪器大讲堂QQ交流群 290101720

参会说明

1

用户报名参会后,若通过审核,两日内将会 收到1 封电子邮件通知函,请注意查收,并按提示进入会议室!(为了使您的报名申请顺利通过,请填写完整而正确的信息)

2

通过审核,但临时不能参加会议的用户请于会议开始前(最晚提前一天)通知本网