布鲁克三维X射线显微镜纳米级micro CT_参数

核心参数

产地类别： 进口

射线能量： X射线源：20 – 100 kV, 10 W < 5 μm spot size at 4 W

穿透能力： 最大14456 x 14456 x 2630 px for 16 MP 探测器,最大11840 x 11840 x 2150 px for 11 MP 探测器

空间分辨率： 标称分辨率：< 0.35 μm for 16 MP 探测器 < 0.45 μm for 11 MP 探测器

密度分辨率： 标称分辨率：< 0.35 μm for 16 MP 探测器 < 0.45 μm for 11 MP 探测器

检测范围： 样品尺寸：最大直径75 mm 最大高度70 mm

尺寸测量精度： X射线探测器：16 MP, 4904 x 3280 px or 11 MP, 4032 x 2688 px 14-bit冷却式CCD探测器，通过光纤与闪烁体1:1耦合

密度测量精度： 标称分辨率：< 0.35 μm for 16 MP 探测器 < 0.45 μm for 11 MP 探测器

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产品介绍售后服务承诺用户评论问商家

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