CMOS平板探测器
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CMOS X射线相机

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美洲

  • 金牌
  • 第15年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数
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CMOS X射线相机由单个半导体硅片制成,可直接探测可见光或配合闪烁晶体用于探测X光和其它高能辐射。针对不同应用,可配备不同厚度Gadox或针状CsI闪烁体,是医学诊断,工业检测,科学成像的理想解决方案,标准能量测试范围为不超过220KV,根据客户要求,能量可到400KV,采用Camera Link接口,全分辨率下最高可到65帧/秒

有效面积(mm)114.9x64.6
分辨率1536x864
像素尺寸(μm)74.8/149.6/299.2;依赖于不同的binning
MTF@6lp/mm大于20%;(150μm HR CsI without binning)
DQE~0.7 at 0.5lp/mm (28 kV, W / Al)
Binning1 x 1, 1 x 2, 2 x 2, 1 x 4, 2 x 4, 4 x 4
工作模式提供低噪声及高动态范围两种
动态范围6400-2400;依赖于不同的工作模式及binning
帧速32-191;依赖于不同的binning及数据接口
ADC分辨率14位
计算机接口Camera Link或千兆以太网
外形尺寸(mm)241 x 150 x 42
重量(kg)1.9


  • Velocity Map Imaging (VMI) 是一种激光物理,激光化学、物理化学领域的强有力实验手段,用于研究气相电离,碎片动力学,光电子能谱以及其他更多的物理/化学过程。VMI 提供带电粒子的速度,角分布及质量,比传统的各种粒子成像或能谱技术提供更为完整和丰富的信息。

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  • 平板探测器作为小动物成像Micro CT系统的关键部件,它的选择尤为重要。先锋科技提供Varex公司多种大靶面COMS平板探测器,客户可根据不同大小的动物进行选择:

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DexelaX射线探测装置CMOS X射线相机的工作原理介绍

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