布鲁克高性能微区荧光光谱仪XTrace XRF（Bruker XTrace XRF）

XTrace 新型微束斑 X 射线源，使扫描电子显微镜具备Micro-XRF 分析能力。

X射线光管搭配多导毛细管聚焦透镜适用于40μm以下小束斑分析
相比于电子束激发，对重元素的探测灵敏度提高了 20 至 50 倍，可进行痕量元素探测
通过组合电子和 X 射线激发光谱的定量分析结果来提高分析精度
可完全集成至全新的 ESPRIT 2.0 四合一软件中

敢为人先！

QUANTAX Micro-XRF系统拥有可以加装在扫描电镜上的XTrace微型X射线发生源，使扫面电镜具备了完全的微区XRF分析能力。XTrace 适用于绝大多数的扫描电镜，用户可以拥有 XRF分析的优势，对痕量元素的高灵敏度，可以得到更多样品内部元素的信息。

用户友好型Micro-XRF系统

·全息面分布（Hypermap）可以将完整的谱图以像素点为单位进行存储。用户可以在测试过程中或之后的任何时间进行数据分析处理。

·样品可以进行微区XRF分析和能谱分析而不需要改变位置。

·分析方法一体化，EDS和微区XRF分析方式都可以在ESPRIT 2.0软件里面实现。

·不会干扰扫描电镜的正常操作，XTrace可以一直在停留在采集位置。

完全的微区XRF分析

·微区分析结果可媲美台式XRF 的结果。

·图像拼接可以实现更大区域的面分布。

·多种X射线滤波器可供选择，用来抑制衍射峰。

·和扫描电镜的自动马达台联动。

·允许样品倾斜，实现X射线的最小束斑尺寸。