看了X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)的用户又看了
最新的Bruker AXS S1 TURBOSD分析仪配置了革命性的硅漂移探测器(SDD)- Bruker XFlash®,为分析和鉴定各种合金提供了无与伦比的速度和准确度。这款分析仪能够在不到1秒内实现合金牌号鉴定,数秒内获得精确的数据,并且能够分析所有合金样品中的轻元素,如Al和Si。配置性能卓越的SDD探测器,加上Bruker的专用分析软件,S1 TURBOSD分析仪能够完成化学成分分析和合金牌号鉴定。仪器配备灵敏度极高的SDD探测器,用户能够分析样品中的所有元素,包括钢材、镍合金和铜合金中的Al,Si,S和P等轻元素。
重量:2 kg 含电池重量, 1.77 kg 主机重量
尺寸:30 cm(长) x 10 cm(宽) x 28 cm(高)
操作系统:掌上电脑--Microsoft® Windows Mobile™ 5.0
笔记本电脑--Windows系统
电池:2块可充电锂电池
电源适配器(包含热交换)
测试模式:牌号鉴定模式-经验参数法;材料可靠性鉴定模式-基本参数法;合格与否判定模式;双重模式(测试常规合金中的轻元素);通用模式
测试元素:标准组件包括25种元素,用户可以指定额外添加元素或使用25种元素的多种组合。在双重模式下可以分析常规合金中的轻元素(如Al, Si, S, P)
数据传输:USB,存储卡,蓝牙
Bruker XFlash®专利的独特硅漂移检测器 (SDD)
能够分析所有合金中的轻元素
可分析的合金:铝, 钛 铁, 钴, 镍和铜
用户可选经验参数、基本参数进行成分分析,实现了测试速度和准确度的平衡
快速、直观显示合金牌号结果范围(2秒内)
强大的合金牌号数据库使用USB线,蓝牙或存储卡传输数据
两年保修
包含用户放射性安全培训
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