美国Hysitron TI系列纳米压痕仪

　　TI-Premier型纳米压痕仪是Hysitron公司研制的自动化、高通量测试仪器，可以用来表征多项纳米力学材料性能参数。高性能的样品加载系统和传感技术赋予仪器超高的稳定性, 在薄膜、陶瓷、复合物、聚合物、微机电系统、生物和金属等领域均有广泛应用，并且支持多种样品类型和多种样品尺寸。　

除了纳米压痕和微米压痕，Hysitron仪器功能还包括摩擦、磨损、模量成像、动态力学分析、声发射监测、接触电阻测量。我们的仪器专为解决您的纳米力学性能需求而设计，并且我们的专家团队将回答并帮助解决您的问题。

产品亮点：

针对从传统材料到薄膜材料的纳米力学及纳米摩擦学定量化表征；

先进纳米力学测试的必备工具，使用Hysitron*的三板电容传感技术能够实现对硬度和残余模量进行精确表征；

纳米磨损技术实现了材料摩擦学特性的定量化表征；

原位SPM技术通过在实验前后获取并对比测试区域表面的纳米尺度形貌像，实现高精度表征的目的；

多功能兼容化的系统配置能够轻易实现各种特殊的研究目的；

标准技术参数：

纳米压痕： *载荷：≥10 mN      *位移：≥5 μm

纳米划痕： *横向载荷力：≥2 mN

纳米磨损： 磨损面积范围：1 μm ×1 μm－60 μm×60 μm

原位SPM成像： 最小扫描成像载荷：70 nN