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布鲁克于analytica上发布FT-IR、XRF两款新品

仪器信息网 2018/04/10 23:39:28 点击 791 次
[导读] 布鲁克宣布推出INVENIO傅立叶变换红外(FT-IR)研究光谱仪、CTX X射线荧光(XRF)元素分析仪两款新品。

  仪器信息网讯 2018年4月10日,两年一度的德国analytica展会在慕尼黑开幕。借此盛会,布鲁克宣布推出INVENIO™傅立叶变换红外(FT-IR)研究光谱仪、CTX™X射线荧光(XRF)元素分析仪两款新品。

INVENIO傅立叶变换红外(FT-IR)研究光谱仪

  INVENIO 是布鲁克VERTEX 70全波长高端红外光谱仪的后继产品,许多创新技术可与成熟的Vertex 70技术相结合。如独特的Rocksolid™干涉仪和FM技术,可同时进行中远红外光谱分析;新的MultiTect™技术允许控制多达五个内部检测器,覆盖从远红外到紫外可见光谱的范围;DigiTect™探测器插槽则可为多种探测器提供更丰富的灵活性;智能INVENIO光束路径进一步提高了光通量和光谱灵敏度等。

  除了性能和灵活性之外,INVENIO的一个主要目标是简化研究用户的工作流程。集成式触摸面板可为研发应用程序提供直观的配置设置和工作流程,系统也可切换至笔记本电脑操作。 Transit™通道可以轻松进行透射测量,无需从样品室中取出实验。

  与其他研究FT-IR相比,INVENIO还设计了带电磁安装的电子编码光束窗口、自动内部衰减器轮和用于标准和客户特定滤波器的8位验证轮。

CTX™X射线荧光(XRF)元素分析仪

  新型CTX采用4W X射线源,采用布鲁克专利的SharpBeam™优化X射线几何结构,高性能硅漂移探测器(SDD)以及DetectorShield™防扎检测功能,可实现Wi-Fi,蓝牙与USB连接,其触摸屏用户界面还可提供测量控制和结果显示。此外,布鲁克的Toolbox PC软件可实现CTX的全面远程操作,可选PC软件包括Bruker的Artax™,用于高级定性、半定量成分分析,以及用于用户定义的经验关联的EasyCal™。

  CTX有多种配置,可针对不同行业和应用进行优化,如矿物和采矿、食品安全和农业、制药原料、贵金属、聚合物和船用燃油分析。它专门设计用于需要在杯子或袋子中进行样品制备和/或样品制备的应用,以及需要测量时间仅需几秒钟的小样品。

  便携式台式XRF(CTX)重量不足7公斤,宽度仅为14厘米。虽然CTX主要设计用于移动和现场实验室,但它也非常适合中央实验室和工厂车间进行快速预筛选或常规分析,以及作为大型XRF或ICP / AA系统的备份。

[来源:仪器信息网译]
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编辑: 韦东裕
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