Nexsa™ X 射线光电子能谱仪
新推出的Nexsa系统首次实现了K-Alpha+全自动、高样品通量设计与ESCALAB Xi+多技术集成功能的高效结合。Nexsa客户可根据实际科研或测试需求，搭配具有不同特色的XPS表面分析平台，如：紫外光电子能谱（UPS）、拉曼光谱（Raman）、离子散射普（ISS）、反射式电子能量损失谱（REELS）等，无需移动或转移样品，可在样品同一位点进行原位分析，实现真正意义上的多技术联合分析。同时，还可搭配Ar气体团簇复合离子源，样品倾斜、偏压模块，以及快速平行成像（SnapMap）功能。
利用新款Nexsa系统，可实现以下功能：
1， 高性能XPS分析：单色化、微聚焦X射线光源，高灵敏度高分辨率；
2， 微区/选区分析：光斑连续可调，微聚焦最小光斑至10μm；
3， 全自动分析：自动识谱，自动添加元素区间，自动生成报告，一键式操作；
4， 大批量测试：样品台面积3600 mm2，样品厚度最大20 mm，可一次性测试几百个样品；
5， 绝缘体样品准确分析：自动化同轴双束中和源，确保无阴影效应，无荷电效应；
6， 大气敏感样品分析：真空传输模块，集成手套箱，确保不暴露大气；
7， Ar单粒子/团簇复合离子源：同一位点两种模式随时切换，不同硬度材料的深度剖析
8， 平行成像：三重相机光学系统，快速（秒级）成像，动态变化实时观测；
9， UPS：费米能级，功函数，占据态能级等信息分析；
10， ISS：最表面原子层元素信息分析，同位素分析；
11， REELS：氢元素分析，HOMO-LUMO带隙分析等；
12， Raman：原位分子结构分析，材料特性确认等；