能量色散X射线荧光光谱仪

EDX-LE Plus是岛津最新专业应对RoHS/ELV等法规中有害物质快速筛选的能量色散型X射线荧光分析装置。高性能的SDD检测器与最佳化的光学系统，灵敏度提高检测下限1.5-5倍，分析速度最大可提高3倍。SDD检测器拥有高分辨优于140ev。定量分析中的背景FP法还注册了日本专利(PCT/JP2013/78002，PCT/JP2013/78001)。该仪器可以对固体、液体、粉末等样品非破坏性的全元素分析，样品无需前处理，可以广泛应用于RoHS筛选、镀层、薄膜及组成成分分析。