详细信息

动态测量数字化HPGe/NaI伽玛谱仪
 List Mode 模式，精确到200纳秒的时间标签
 低频噪声抑制器自动甄别并扣除噪声信号
 弹道亏损与电荷俘获校正
 自动最优化、自动极零、零死时间校正和数字化门控基线恢复等多项专利技术

低频抑制器（LFR）：
开启时可甄别并扣除谱中小于3kHz的低频噪声信号，可显著降低系统本底，降低检出下限，或者缩短测量时间。
最大数据通过率 :
大于100,000 cps（低频抑制器LFR关闭）；大于34,000 cps（低频抑制器LFR开启，根据成形时间常数而变）。
增益:
粗调：由计算机选定为1,2,4,8,16,或32；
细调：由计算机设定为0.45至1.00。
成形时间常数：
上升时间：0.8至23 s可调，每步0.2s，由计算机选择；平顶：范围从0.3至2.4s，每步0.1s，由计算机选择。
存储器分段（系统变换增益）：
由计算机选择为16,384，8192，4096，2048，1024或512道。
非线性：
积分非线性：≤ 0.025%（谱高端的99.5%，用5.9KeV到1836KeV范围内的混合源测定)；微分非线性：≤ 1%（用BNC公司的脉冲产生器及斜波产生器测定)
数字化稳谱器：
由计算机控制并稳定增益和零点。
温度系数：
增益:<35ppm/C；零点:<3 ppm/C。
过载恢复：
在最大增益时，能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内（用Insight虚拟示波器测定）。
脉冲抗堆积：
自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns。
自动数字化极零调节：
由计算机控制，可以手动或自动设定，远程模拟示波器方式诊断。
LLD/ULD：
数字下域电平甄别，以道为单位设置，LLD以下所有各道的计数被卡掉；数字上域电平甄别， ULD以上所有各道的计数被卡掉。
数字式门控基线恢复器：
可由计算机调节恢复频率（高、低或自动）。
数据存储器：
16,384道不丢失数据存储器，每道容量231-1（20亿）计数。
计数率显示：
在谱仪或电脑屏幕上显示计数率。
死时间校正：
按Gedcke-Hale 法活时校正，精度（随峰面积而变化）： <+ 3% ( 0 – 50,000 cps)。
显示/接口：
240160像素(pixel)背光液晶显示(LCD)提供谱的活显示和状态信息。USB接口。
尺寸与重量：
尺寸：24.9×20.0×8.1 cm。
重量：＜1.0Kg。
工作条件：
0C到50C（包括LCD显示）。

List Mode
在大范围的车载、航空或监控门等动态测量中，DSPEC-Pro可以为“数据流”设定最短200纳秒的时间标签，这一功能与全球定位系统的结合可以快速确定放射性的来源。
弹道亏损与电荷俘获校正
对于大体积、高效率的高纯锗探测器和存在中子损伤的场合，弹道亏损或电荷俘获效应会使谱峰在低能端有较明显的拖尾，DSPEC-Pro在电子学上设计有专门的校正功能。