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波长色散X射线荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。
波长色散X射线荧光光谱仪采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。
我公司客来得宝科技现特价销售X射线荧光光谱仪，详细产品资料请来电咨询。
仪器简介：
portaspec应用情况：
涂层测厚：
portaspec是理想的离线和在线测厚仪，是美国ASTM金属基层处理涂层测厚检验标准（D5723-95）中唯一推荐仪器。
portaspec可测量铁基锡层、锌层及锰层、锌铁基铬层、铝基氧化铁层、铬层等。广泛应用于各种金属板材、汽车轮毂、计算机硬盘、硬币、纸张及塑料薄板等领域。
探测厚度范围：0.006-0.05毫米
元素分析：
portaspec可快速准确地分析某一元素的含量，给出用户所需的任何数值单位。是理想的实验室、工厂工艺和质量检测仪器。
通过对某一关键元素的测量与控制，可以有效地控制产品质量。如：玻璃制造，对硅砂及成品中铁元素含量的测量；建筑材料，对聚苯保温材料中铁元素含量的测量。铁元素的含量直接影响上述产品性能。
portasjpec可直接用于成型材料的元素分析；如：各种铸件、管材、棒材、板材等，无须样品制备。
portaspec是理想的移动实验室仪器，可装入中型汽车，配备一台便携式发动机，可用于矿山、野外现场元素分析。
合金鉴别
portaspec可用于黑色及有色金属的原料及成品的等级分类，是质量控制的有效工具。
portaspec可用于化工厂设备安装工程，对各类合金管道进行现场分类鉴别，从而避免管道的错误安装。
主要特点：
美国Cianflone 公司2501 XBT型portaspec是理想的涂层测厚在线连续检测装置。可与PC机数据相兼容。
元素分析范围: Ti-Ag ， Ba-U
可测量铬和钛预处理
荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；
包括安装简单的双位样品池支架
可进行单元素或多元素顺序分析
分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化；
包括触摸屏笔记本电脑
Windows系统软件控制
