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ASAP 系列仪器微孔分析时自由空间的测 量

发布时间:2015/11/13 10:15 下载:5 次 免费下载
许多微孔材料(例如分子筛,活性炭等。)在进行自由空间测量时,由于 暴露在He 气中几个小时,会将He 捕捉并保存在它们复杂的孔结构中,最终影响到分析低压区数据,在低压区出现S 型曲线。本文针对这种情况,给出了相应的解决方案,不仅罗列出相应的注意事项和需要采用的工具,还详细的描述了测试文件如何编辑和选择,并进行了举例说明。
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